مشخصه یابی اپتیکی فیلم های نازک اکسید وانادیم آلاییده شده با سریم با استفاده از طیف بازتاب

پنتا اکسید وانادیم یک نیمرسانای نوع n است که تراز 3d آن در حال پر شدن است. این اکسید فلزی به شکل فیلم نازک کاربردهای وسیعی در پنجره های هوشمند و کلیدهای اپتیکی دارد. بنابراین، تعیین پارامترهای اپتیکی فیلم نازک v2o5 (شامل ضریب شکست و خاموشی) برای طراحی ابزارهای اپتوالکترونیک و پوششهای اپتیکی به صورت فیلم های اپتیکی نازک چند لایه و فیلترها ضروری است.تا کنون روشها و مدلهای مختلف فیزیکی برای محاسبه ضریب شکست و خاموشی به وسیله محققان ارائه شده است. یکی از روشهای متداول برای تعیین ثابتهای اپتیکی برازش طیف تجربی بر مبنای مدلهای اپتیکی به وسیله الگوریتم بهینه سازی است. از آنجا که الگوریتم لونبرگ- مارکورارت یک تکنیک استاندارد برای حل مسائل معکوس غیرخطی است و همگرایی سریعتری را فراهم می¬کند در این مطالعه به کار برده شده است. تابع دی الکتریک پارامتری داده های تجربی را با محاسبه ضخامت و ثابتهای اپتیکی فیلم های پنتااکسید وانادیم آلاییده شده با سریم در فرآیند کمینه سازی تخمین می زند. این فیلم ها با روش سل-ژل تهیه شده و بر بستر شیشه نهشته شده اند. ثابتهای اپتیکی با استفاده از پارامترهای مدل درود-لورنتز با بازیابی تک طیف بازتاب تخمین زده شدند. علاوه بر ثابت های اپتیکی و ضخامت، گاف نواری اپتیکی، رسانندگی و تابع اتلاف سطحی و حجمی از پارامترهای تابع دی الکتریک حجمی و سطحی تعیین شدند.