مدلسازی و آشکارسازی خطا با آستانه تطبیقی برای یک سیستم فضایی به روش باند گراف

روش¬های مختلفی برای آشکارسازی و جایابی عیب توسعه¬یافته¬اند. اما درمیان آنها، روشهای آشکار¬سازی و جایابی عیب مبتنی بر روابط افزونگی تحلیلی، به¬وفور در سیستمهای پایش و نظارت برخط مورد استفاده قرار می¬گیرند. در این رساله، برای به¬دست آوردن روابط افزونگی تحلیلی، از روش باندگراف استفاده شد. از طرف دیگر، از آنجایی¬که در همه مقالات منتشرشده برای سیستمهای تراکم¬پذیر به¬روش باندگراف، به¬دلیل پایین بودن سرعت، از اثرات ممنتوم سیال صرف¬نظر شده¬است، لذا لازم بود اثرات ممنتوم سیال در جریانهای مافوق صوت مدنظر قرارگیرند. به¬این منظور، میدان¬ ke برای جریان آیزنتروپیک معرفی و روابط میدان نازل آیزنتروپیک r برای نازل همگرا- واگرا توسعه داده-شدند و کاربرد میدان جدید ke از طریق نتایج آزمایشگاهی اعتبارسنجی ¬شد. علاوه¬بر آن، توسعه میدان جدید برای جریان غیرآیزنتروپیک در یک نازل همگرا- واگرا، منجر به معرفی میدان nike شد. این میدان علاوه بر درنظرگرفتن معادلات ممنتوم، قادر است محل ایجاد شوک قائم درون یک نازل همگرا- واگرا را محاسبه نماید. یکی از مزایای میدان¬های جدید این است که می¬توانند به¬راحتی در نرم¬افزارهایی مانند20-sim ,symbols2000, ms1 به¬کار گرفته¬شود؛ بنابراین با استفاده از خواص ساختاری باندگراف، معادلات حالت به صورت سیستماتیک استخراج و با استفاده از روشهای عددی مناسب حل می¬شوند و نیاز به استخراج معادلات به¬صورت دستی و حل آنها مرتفع می¬گردد. در گام بعدی، میدان¬های جدید برای مدل¬سازی یک سیستم عملگر گاز سرد آزمایشگاهی مورد استفاده قرار گرفتند. بعد از اطمینان از صحت مدل¬سازی، از مدل به¬دست آمده جهت به¬دست آوردن روابط افزونگی تحلیلی و طراحی سیستم پایش و جایابی عیب در غیاب عدم¬قطعیت¬ها استفاده شد. در گام آخر نیز به¬منظور درنظر گرفتن عدم¬قطعیت در سیستم¬های تراکم¬پذیر و به¬دست آوردن آستانه¬های تطبیقی، فرم عدم¬قطعیت lft برای میدان ظرفیتی c و میدان نازل آیزنتروپیک r توسعه داده¬شد. روابط افزونگی تحلیلی برای محاسبه مانده¬ها و آستانه¬های تطبیقی، از مدل باندگراف استخراج ¬شدند و سپس از روی روابط به¬دست آمده، مقادیر عددی مانده¬ها و آستانه¬های تطبیقی محاسبه شدند. نهایتا از طریق نتایج آزمایشگاهی نشان داده¬شد میدان جدید ke بعلاوه فرم¬های lft توسعه¬یافته، قادر به آشکارسازی و جایابی عیب در سیستم تراکم¬پذیر هستند.