تشخیص خطاهای منطقی stuck-at در مدارات آسنکرون
پایان نامه
- وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی امیرکبیر(پلی تکنیک تهران) - دانشکده مهندسی کامپیوتر
- نویسنده مسعود زمانی
- استاد راهنما حسین پدرام
- تعداد صفحات: ۱۵ صفحه ی اول
- سال انتشار 1386
چکیده
طراحی مدارات به روش آسنکرون، می تواند منجر به کاهش توازن مصرفی و افزایش پایداری مدار در مقایسه با مدارات سنکرون می شود. با این وجود، وجود دو مسیله در مورد مدارات آسنکرون، مانع از گسترش آن ها در طراحی های دیجیتال گردیده است. این دو مشکل را می توان در پیچیدگی روند طراحی این مدارات و تست آن ها بیان کرد. برای حل مشکل پیجیدگی روال طراحی این مدارات، روش های مختلفی ارایه گردیده است، که یکی از کاراترین راه حل ها سنتز این مدارات با الگوهای از پیش طراحی شده می باشد. ولی متاسفانه تحقیقات محدودی در زمینه تست مدارات آسنکرون مبتنی بر الگو انجام پذیرفته است. لذا ما در این پروژه قصد داریم با بررسی رفتار خطا الگوهای از پیش طراحی شده ی pcfb(pre-chaged full buffer و pchb(pre-charged half buffer مداراتی را معرفی کنیم که قابلیت تست این مدارات را افزایش دهند. در کنار این هدف با بررسی خطا در مدارات qdi(quasi delay insensitive مداراتی را نیز به عنوان مدارات جامع و قابل استفاده در تمام مدارات آسنکرون qdi معرفی کنیم. از دیگر دست آوردهای این پروژه معرفی ابزار شبیه سازی خطا، مناسب برای مدارات آسنکرون مبتنی بر الگو می باشد. با این که تمام ابزارها و مدارات معرفی شده بر اساس ابزار سنتز persia پیاده سازی شده اند. ولی روال کلی آن ها سازگار با هر ابزار سنتی مبتنی بر الگو می باشد و قابل پیاده سازی برای دیگر ابزارهای سنتز مبتنی بر الگو می باشند.
منابع مشابه
Stuck-At Tuple-Detection: A Fault Model Based on Stuck-At Faults for Improved Defect Coverage
N-detection stuck-at test sets were shown to be effective in achieving high defect coverages for benchmark circuits. However, the definition of n-detection test sets allows the same set of faults to be detected by several different tests, thus potentially detecting the same defects. We propose an extension of the ndetection model that alleviates this problem by considering mtuples of faults and...
متن کاملSIFU! - A Didactic Stuck-at Fault Simulator
This paper presents a didactic simulator for stuck-at (sa) faults on logic circuits. The tool has a set of features that helps to understand the concepts of single and multiple stuck-at faults, being these faults testable or not, and how to generate test vectors in order to test the detectable fault subset. An interface was developed to allow the edition of a circuit, the injection of faults an...
متن کاملStuck-at-a-state is a Boon
I am trying to show stuck-at-a-state is not a hazard or damage for design architecture but can a boon for many cases. I considered different types of image analysis technique, clock rate, clock/data waveform, edge detection and RGB content’s value of an image for this research to carry on. Several performability issues has been taken care for this analysis. I have shown matlab code for simulati...
متن کاملOn coding for 'stuck-at' defects
Remark: In [5] new [120-41,50-31,241 codes are constructed for i = 0,1,2,3,4, as well as a [96,33,24] code. These codes may be obtained in the same way as the [99,35,24] code in Example 2. These codes were found independently and simultaneously by Ying Cheng [3]. are carefully defined and bounded. A reasonably practical convolutional coding scheme is described and simulated. Finally, some codes...
متن کاملMultiple Stuck at fault model Analysis
This paper discusses an algorithm to model any given multiple stuck at fault as a single stuck at fault with the insertion of at most n+3 gates, where n is the multiplicity of the targeted fault. The application of this model in circuit optimization, fault diagnosis and testing of multiply testable faults is discussed with examples. Any arbitrary multiple fault in combinational and sequential c...
متن کاملمنابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده{@ msg_add @}
نوع سند: پایان نامه
وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی امیرکبیر(پلی تکنیک تهران) - دانشکده مهندسی کامپیوتر
میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com
copyright © 2015-2023