Variable-Temperature Micro-Four-Point Probe Method for Surface Electrical Conductivity Measurements in Ultrahigh Vacuum

نویسندگان
چکیده

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

A variable temperature ultrahigh vacuum atomic force microscope

A new atomic force microscope (AFM) that operates in ultrahigh vacuum (UHV) is described. The sample is held fixed with spring clamps while the AMF cantilever and deflection sensor are scanned above it. Thus, the sample is easily coupled to a liquid nitrogen cooled thermal reservoir which allows AFM operation from ≈ 100 K to room temperature. AFM operation above room temperature is also possibl...

متن کامل

طراحی و ساخت دستگاه four-point probe station

یکی از ویژگی های اساسی مواد هادی مقاومت الکتریکی آن هاست که با داشتن تعداد الکترونهای آزاد لایه ظرفیت می توان مقاومت الکتریکی آن ماده را پیدا نمود. با اندازه گیری مقاومت الکتریکی مواد می توان ویژگیها و مشخصات ماده را تعیین نمود. در این پایان نامه بنا داریم به اندازه گیری مقاومت الکتریکی با استفاده چهار پراب همراستا با فاصله ثابت از هم که در تماس با سطح یک ویفر سیلیکونی هستند اقدام کنیم. در عم...

Automatic kelvin probe compatible with ultrahigh vacuum

This article describes a new type of in situ ultrahigh-vacuum compatible kelvin probe based on a voice-coil driving mechanism. This design exhibits several advantages over conventional mechanical feed-through and (in situ) piezoelectric devices in regard to the possibility of multiple probe geometry, flexibility of probe geometry, amplitude of oscillation, and pure paranel vibration. Automatic ...

متن کامل

Characterization of semiconductor surface conductivity by using microscopic four-point probe technique

Four-point probe characterization is a standard method for studying the electrical properties of solids and thin films. The probe spacing in four-point probe technique has to be reduced to micro-scale to obtain expected surface sensitivity and spatial resolution. Therefore, microscopic four-point probes (M4PPs) need to be combined with some microscopy techniques. Two types of M4PPs systems have...

متن کامل

Anisotropy in conductance of a quasi-one-dimensional metallic surface state measured by a square micro-four-point probe method.

We have devised a "square micro-four-point probe method" using an independently driven ultrahigh-vacuum four-tip scanning tunneling microscope, and succeeded for the first time to directly measure anisotropic electrical conductance of a single-atomic layer on a solid surface. A quasi-one-dimensional metal of a single-domain Si(111)4 x 1-In had a surface-state conductance along the metallic atom...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: e-Journal of Surface Science and Nanotechnology

سال: 2003

ISSN: 1348-0391

DOI: 10.1380/ejssnt.2003.50