Epitaxial Yttria-stabilized Zirconia (YSZ) Film Deposited on Si(100) Substrate by YAG Laser

نویسندگان
چکیده

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

18O-tracer diffusion along nanoscaled Sc2O3/yttria stabilized zirconia (YSZ) multilayers: on the influence of strain

The oxygen tracer diffusion coefficient describing transport along nano-/microscaled YSZ/Sc2O3 multilayers as a function of the thick-ness of the ion-conducting YSZ layers has been measured by isotope exchange depth profiling (IEDP), using secondary ion mass spec-trometry (SIMS). The multilayer samples were prepared by pulsed laser deposition (PLD) on (0001) Al2O3 single crystalline substrates....

متن کامل

Crystallization of 8mol% yttria-stabilized zirconia thin-films deposited by RF-sputtering

a Laboratory for Development and Methods, Paul Scherrer Institut, 5232 Villigen-PSI, Switzerland b General Energy Research Department, Paul Scherrer Institut, 5232 Villigen-PSI, Switzerland c Massachusetts Institute of Technology (MIT), Department of Materials Science and Engineering and Department of Nuclear Science and Engineering, 77 Massachusetts Ave, Cambridge, MA 02139, USA d Electron Mic...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: SHINKU

سال: 2004

ISSN: 0559-8516,1880-9413

DOI: 10.3131/jvsj.47.581