Beyond the Rayleigh scattering limit in high-Q silicon microdisks: theory and experiment
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
Beyond the Rayleigh scattering limit in high-Q silicon microdisks: theory and experiment.
Using a combination of resist reflow to form a highly circular etch mask pattern and a low-damage plasma dry etch, high-quality-factor silicon optical microdisk resonators are fabricated out of silicon-on-insulator (SOI) wafers. Quality factors as high as Q = 5x10(6) are measured in these microresonators, corresponding to a propagation loss coefficient as small as alpha ~ 0.1 dB/cm. The differe...
متن کاملRayleigh scattering, mode coupling, and optical loss in silicon microdisks
High refractive index contrast optical microdisk resonators fabricated from silicon-on-insulator wafers are studied using an external silica fiber taper waveguide as a wafer-scale optical probe. Measurements performed in the 1500 nm wavelength band show that these silicon microdisks can support whispering-gallery modes with quality factors as high as 5.23105, limited by Rayleigh scattering from...
متن کاملthe analysis of the role of the speech acts theory in translating and dubbing hollywood films
از محوری ترین اثراتی که یک فیلم سینمایی ایجاد می کند دیالوگ هایی است که هنرپیش گان فیلم میگویند. به زعم یک فیلم ساز, یک شیوه متأثر نمودن مخاطب از اثر منظوره نیروی گفتارهای گوینده, مثل نیروی عاطفی, ترس آور, غم انگیز, هیجان انگیز و غیره, است. این مطالعه به بررسی این مسأله مبادرت کرده است که آیا نیروی فراگفتاری هنرپیش گان به مثابه ی اعمال گفتاری در پنج فیلم هالیوودی در نسخه های دوبله شده باز تولید...
15 صفحه اولPALM and STORM: what hides beyond the Rayleigh limit?
Super-resolution imaging allows the imaging of fluorescently labeled probes at a resolution of just tens of nanometers, surpassing classic light microscopy by at least one order of magnitude. Recent advances such as the development of photo-switchable fluorophores, high-sensitivity microscopes and single particle localization algorithms make super-resolution imaging rapidly accessible to the wi...
متن کاملhigh volatility, thick tails and extreme value theory in value at risk estimation: the case of liability insurance in iran insurance company
در این بررسی ابتدا به بررسی ماهیت توزیع خسارات پرداخته میشود و از روش نظریه مقادیر نهایی برای بدست آوردن برآورد ارزش در معرض خطر برای خسارات روزانه بیمه مسئولیت شرکت بیمه ایران استفاده میشود. سپس کارایی نظریه مقدار نهایی در برآورد ارزش در معرض خطر با کارایی سایر روشهای واریانس ، کواریانس و روش شبیه سازی تاریخی مورد مقایسه قرار میگیرد. نتایج این بررسی نشان میدهند که توزیع ،garch شناخته شده مدل...
15 صفحه اولذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Optics Express
سال: 2005
ISSN: 1094-4087
DOI: 10.1364/opex.13.001515