برای بررسی خواص فیزیکی لایه های نازک آلومینا به ترتیب زیر عمل نمودیم؛ از آنالیز پراش پرتو x (xrd)، آنالیز طیف سنجی فتو الکترونی پرتو (xps) x و طیف سنجی مادون قرمز تبدیل فوریه (ftir) برای بررسی ساختاری و پیوندی این لایه ها، بهره بردیم. مورفولوژی سطح و پار امترهای زبری نیز به کمک آنالیزهای میکروسکوپ الکترونی روبشی(sem) و میکروسکوپ نیروی اتمی (afm) مورد بررسی قرارگرفت. جهت بررسی خواص اپتیکی نمونه ها نیز از آنالیز طیف سنجی نوری استفاده شد. نتایج نشاندهنده تاثیر قابل توجه دو پارامتر دمای زیر لایه و تغییر مولاریته، روی خواص فیزیکی لایه های آلومینا می باشد. از لایه 0.25 m به عنوان لایه بهینه برای مرحله بعدی استفاده کردیم. جفت جاذب- بازتابگر، یعنی ترکیبی از یک جاذب خوب در محدوده uv-vis-nir و بازتابگر خوب در محدوده طیفی .fir اگرچه لایه نازک آلومینا به طور ساختاری و سطحی خاصیت گزینشی قابل قبولی دارد ولی اضافه کردن فلزات واسطه، اثر اثبات شده ای در جهت افزایش ضریب جذب خورشیدی دارد. علاوه بر آنالیزهای sem و xrd ، از آنالیزهای طیف سنجی بازتابی پخشی (drs) و ftir مد انعکاسی نیز برای بررسی ضرایب جذب خورشیدی و گسیل گرمایی استفاده شد تا ضریب گزینشگری لایه های جاذب مورد ارزیابی قرار بگیرد. از آزمون شتاب داده شده زوال گرمایی، به منظور بررسی عملکرد لایه های جاذب بهینه، کمک گرفتیم و ضریب محک کارایی که از روی ضرایب جذب خورشیدی و گسیل گرمایی به دست می آید، را برای هر کدام از لایه ها محاسبه نمودیم و سپس نتایج را نیز با هم مقایسه کردیم.