قلعه ی صمصام السلطنه ی شلمزار در استان چهارمحال و بختیاری و در جنوب غرب ایران قرار دارد. این قلعه در سال 1318 ه.ق توسط مرتضی قلی خان صمصام السلطنه ساخته شد و از نمونه قلعه هایی است که دارای ستون های سنگی منحصر به فرد دوره قاجاریه می باشد. با بررسی ساختار ستون ها می توان اطلاعات مناسبی از هنر حجاری دوره قاجاریه ی را در اختیار قرار دهد. ستون های بنا با گذشت زمان، متحمل آسیب های گوناگونی شده اند که برای جلوگیری از ویران شدن بیشتر و فراهم آوردن شرایطی مطلوب برای تأمین بقا و ادامه حیات این اثر ارزشمند باید اقدامات مناسبی صورت گیرد. این ارزش ها بر لزوم حفاظت و مرمت این گونه آثار، بر پایه ی مطالعات ساختاری فن شناسی و آسیب شناسی می-افزایند. در این پژوهش از روش های پتروگرافی(میکروسکوپ نوری)، پراش پرتو ایکس(xrd) و آزمایشات شیمی تَر برای آشکارسازی اطلاعات در خصوص ساختارهای کریستالوگرافی، ترکیبات شیمیایی، خواص فیزیکی، شناسایی نوع سنگ و ترکیبات رسوبات سطحی استفاده شده است. نتایج به دست آمده نشانگر آن است که عوامل محیطی و دخالت های انسانی به مرور زمان به روند آسیب های ناشی از مرحله ساخت سرعت بخشیده و آسیب های جدیدی پدید آورده اند. با استناد به بررسی ها و آزمایش های انجام شده روی نمونه های مورد بررسی، از میان عوامل محیطی و انسانی آسیب رسان، هوازدگی نقش بارزتری را در فرسایش این اثر دارد. در نهایت، با به کارگیری نتایج به دست آمده از بررسی های میدانی و مطالعات آزمایشگاهی، برای کنترل روند تخریب راه کارهایی موثر جهت حفظ و نگهداری ستون های قلعه ارائه شد. نوع تحقیق و محور اصلی پژوهش توصیفی، تحلیلی است و در جمع آوری اطلاعات از روش های کتابخانه ای، مطالعات آزمایشگاهی و میدانی نیز استفاده شده است.

این پروژه براساس معرفی اثر، بررسی نوع مواد و تکنیک ها، شناسایی انواع آسیب و ارائه طرح حفاظت انجام شده است برای این منظور"بادبزن چینی" متعلق به موزه مقدم دانشگاه تهران جهت نمونه مطالعاتی انتخاب شده است.برای بررسی و شناسایی رنگدانه ها از عکسبرداری با لوپ دیجیتال دستی، فلورسانس اشعه ایکس، طیف سنجی مادون قرمز تبدیل فوریه و تکنیک عکاسی مادون قرمز استفاده شده است. گونه الیاف کاغذ، پارچه، چوب با میکروسکوپ پلاریزه و لاک دسته، با طیف سنجی مادون قرمز تبدیل فوریه شناسایی شده است. طبق مطالعات تاریخی-تطبیقی و بررسی آزمایشگاهی، نتایج حاصل از مقایسه آزمایش های xrf ، ftir ، plm با مرجع؛ پالت هنرمند بدین ترتیب تشخیص داده شده است: