لایه های نازک اکسید روی آلائیده با آلومینیم به روش اسپری پایرولیز بر روی زیرلایه ی سیلیکون و شیشه لایه نشانی شده اند. آنالیز پراش پرتو ایکس فازهای موجود در لایه های نازک را مشخص نموده است. آنالیز فوتولومینسانس جهت بررسی خواص لومینسانس فیلم های نازک گرفته شده و طیف سنجی فرابنفش- مرئی برای بررسی عبور اپتیکی نمونه ها و تعیین گاف انرژی و لبه ی جذب اپتیکی استفاده شده است. از تصاویر edax جهت تعیین نوع عناصر موجود در نمونه ها استفاده شده است. وحضور آلومینیوم بر روی زر لایه به اثبات رسیده است.آنالیزهای میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروسکوپ نیروی اتمی جهت بررسی خواص مورفولوژی فیلم های نازک اکسید روی آلاییده با آلومینیوم به کار رفته است.تولید نانو میله برای فیلم های نازک اکسید روی آلاییده با آلومینیوم توسط اطلاعات کسب شده از تصاویر مربوط به الکترون روبشی مورد تایید قرار گرفته است.خواص فوتوولتاییکی مربوط به پیوندگاه ساخته شده از طریق فیلم نازک اکسید روی آلاییده با آلومینیوم با نوع n و سیلیکون نوع p مطالعه گردید و همچنین خواص یکسوسازی و بازده مورد انتظار از این پیوندگاه جهت ساخت سلول خورشیدی فیلم نازک بررسی شده است.