ضریب شکست غیرخطی و ضریب جذب دو فوتونی نانوذرات اکسید روی به روش z-روبش با دو چیدمان دریچه بسته و دریچه باز برای غلظت¬های مختلف نانوذرات و توان¬های مختلف چشمه نور ورودی اندازه¬گیری و گزارش شده است. نتایج بدست آمده نشان می¬دهد که ضریب شکست غیرخطی مرتبه دوم، n2، از مرتبه (cm2/w10-7) و دارای علامت منفی است. ضریب جذب غیرخطی دو فوتونی، ?، از مرتبه (cm/w10-3) است. چشمه نور بکار رفته در چیدمان آزمایشگاهی، هارمونیک دوم لیزر پیوسته nd:yag با طول موج 532 نانومتر است. نانو ذرات اکسید روی به روش شیمیایی سل-ژل سنتز شده است. نمونه به کمک پراش اشعه ایکس (xrd) ، میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem)، طیف جذبی ناحیه مرئی-فرابنفش (uv-vis) مشخصه یابی شده است. نتایج (xrd) نشان می دهد که نانو ذرات اکسید روی دارای ساختار ورتزایت است. تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی نشان می دهد که اندازه میانگین نانو ذرات در محدوده 5/33 تا 8/55 نانومتر است. طیف جذبی ناحیه uv-vis یک پیک جذبی در 290 نانومتر نشان می دهد. نوآوری این کار تحقیقی نسبت به کار های مشابه استفاده از لیزر موج- پیوسته nd:yag با طول موج 532 نانومتر است.