در این پایان نامه ساختار و خواص نوری دولایه ای عایق- فلز (ag/sio2) که بر روی زیرلایه سیلیسیوم نوع n لایه نشانی شده مورد مطالعه قرار گرفته است. انگیزه ما از انتخاب دولایه ای فلز-دی الکتریک (نقره- دی اکسیدسیلیسیوم) به علت خواص نوری بسیار خوب و کاربردهای فراوان آن بوده است. از نتایج مهم این کار تحقیقاتی می توان به جذب بالای نمونه اشاره نمود که به تشدید پلاسمون های سطحی آن مربوط می شود. در فصل اول مختصری درباره مشخصات فلز نقره و کاربردهای آن، ویژگی های نقره در مقیاس نانو همچنین خواص و کاربردهای نارسانای دی اکسیدسیلیسیوم و مروری بر تحقیقات گذشته آمده است. در فصل دوم روش های لایه نشانی و دستگاه های بکار گرفته شده در این تحقیق معرفی شده اند و در فصل آخر نیز به روش آزمایش و تجزیه و تحلیل نتایج و داده های تجربی پرداخته ایم. برای لایه نشانی نمونه ها از روش کندوپاش استفاده شده است. برای بررسی ریخت شناسی و تعیین میانگین زبری نمونه ها از میکروسکوپ نیروی اتمی (afm) استفاده کرده ایم. ویژگی نوری لایه نازک نقره-دی اکسید سیلیسیوم توسط دستگاه بیناب سنج نوری (uv-visible) درگستره طول موج 1200-200 نانومتر بررسی شده و برای مطالعه خواص ساختاری و بدست آوردن اندازه بلورک ها دستگاه پراش پرتوایکس (xrd) بکار گرفته شده است.