در تکنولوژیهای جدید خطای نرم به عنوان اصلی ترین عامل کاهش قابلیت اطمینان در مدارات مجتمع شناخته می شود. در این میان نقش مدارات ترکیبی در افزایش نرخ خطای نرم مدارات مجتمع غیرقابل انکار است. نکته قابل توجه در مورد وقوع خطای نرم در مدارات ترکیبی این است که برخلاف سلولهای حافظه، خطای گذرا بطور مستقیم منجر به وقوع خطای نرم نمی شود، بعبارتی یک خطای گذرا برای تبدیل شدن به خطای نرم بایستی در مدار ترکیبی منتشر شود. عوامل متعددی بر انتشار خطای گذرا در مدارات ترکیبی تاثیر دارند که مهمترین آنها پوششها هستند. هدف این پایان نامه بررسی نقش این پوششها (خصوصا پوشش منطقی) در انتشار خطای نرم و قابلیت اطمینان مدارات مجتمع دیجیتال است. در این راستا سه روش مبتنی بر احتمال سیگنال برای محاسبه ی قابلیت اطمینان ارائه شده است؛ روش پیشنهادی اول با استفاده از کد باینری توانسته علاوه بر اعمال اثر مسیرهای همگرا، تا حد زیادی سرعت محاسبات را افزایش دهد. عیب عمده ی این روش افزایش زمان محاسبات به ازای افزایش تعداد گیتهای مدار است. روش پیشنهادی دوم توانسته است این مشکل را با استفاده از تکنیک تخصیص موقعیت تا حد زیادی رفع کند. روش سوم که اصلاح شده ی روش دوم است به منظور افزایش سرعت محاسبات ارائه شده است.