نانوساختارهای درآمیخته با پلیمرها اهمیت فیزیکی قابل ملاحظه ای دارند. از این رو ارائه ی روشی دقیق و غیرمخرب برای تعیین مشخصات پروفیل عمقی این نانوساختارها، ضروری است. مطالعه بر اساس شدت بیشینه، خطاهایی را دربرداشت. از این رو توگارد با آنالیز هم زمان شدت بیشینه و زمینه ی قله ی طیف یا به عبارتی با آنالیز شکل قله ی طیف xps، خطاها را برطرف کرد. هم چنین توانست به طور کمی پروفیل عمقی مربوط به نانوساختارها را پیدا کند. او با در نظر گرفتن پروفیل عمقی ساده مثل مدل جعبه ای یا لایه ی نازک و با لحاظ سطح مقطع پراکندگی ناکشسان الکترون در یک مولفه از نانوساختارها، آنالیز را انجام داد. این روش توسط حاجتی و همکاران به تعیین پروفیل عمقی نانوساختارها با مورفولوژی پیچیده تری مثل نانوذره ی کروی درون پلیمر تعمیم داده شد. با این حال در آنالیز فقط از سطح مقطع پراکندگی ناکشسان الکترون ها در پلیمر استفاده شدکه هر چند نتایج ارزنده-ای حاصل شد ولی خالی از خطا نبود. تصحیح دقیق توزیع انرژی به دست آمده جهت استخراج اطلاعات مورد نیاز، بستگی به اعمال پارامترهای موثر در انتقال الکترون در مواد دارد. برای تصحیح خطاهای ذکر شده در مسأله، متوسط وزنی از سطح مقطع پراکندگی ناکشسان مربوط به پلیمر و فلز که بستگی به میزان درهم آمیختگی پلیمر و فلز دارد، در محاسبات لحاظ می شود و اجرای آن با محاسبات کامپیوتری و مقایسه ی نتایج حاصله با نتایج به دست آمده از یک نمونه ی مرجع انجام می-شود. در این پایان نامه، ما به بررسی چهار مورفولوژی به روش تحلیل شکل قله یxps پرداخته ایم که این چهار مورفولوژی شامل پلیمر آمیخته با نانوذره ی کروی، پلیمر آمیخته با نانومخروط، پلیمر آمیخته با نانوسیم استوانه ای و پلیمر آمیخته با نانوسیم هرمی می باشد. در این راستا با تصحیح خطاهای موجود در کار نتایج ارزشمندی به دست آمد.