اکسید-دوتائی sio2-tio2 دارای ویژگی ها و خواص مناسبی است که باعث شده تا این ماده کاربردهای مختلفی در صنعت داشته باشد. از جمله کاربردهای این اکسید دوتائی می توان به کاربرد آن در زمینه های مختلف مانند صنایع اپتیکی، ساخت موجبرهای اپتیکی، حسگرها و سلول های خورشیدی اشاره کرد. به همین علت تحقیقات متعددی در دهه های اخیر در مورد خواص و روش های ساخت لایه نازک آن صورت گرفته است. در این پایان نامه، ابتدا لایه های نازک اکسید-دوتائی sio2-tio2 با استفاده از روش شیمیایی سل-ژل و لایه نشانی چرخشی بر زیرلایه های شیشه ای، لایه نشانی گردید. سپس خواص نوری و سطحی این لایه ها در شرایط مختلف مورد بررسی قرار گرفت. برای مشخصه یابی لایه های نازک ساخته شده از آنالیزهای طیف سنجی نوری در محدوده ماورای بنفش-مرئی (uv-visible)، میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) و میکروسکوپی نیروی اتمی(afm) استفاده گردید. همچنین به سنتز نانوذرات اکسید-دوتائی sio2-tio2 و مشخصه یابی آن توسط پراش اشعه ایکس (xrd) و طیف سنجی تبدیل فوریه مادون قرمز (ft-ir) پرداخته شد.