نام پژوهشگر: بهنام علیزاده
بهنام علیزاده امیر سید حسن روضاتیان
چندلایه ای هایco/ru به دلیل کاربردهایی که در زمینه های مختلف از جمله محیط های حافظه نوری - مغناطیسی دارند از اهمیت ویژه ای برخوردار هستند. بر اساس نتایج تحقیقات گزارش شده، با افزایش تعداد لایه های co/ru این سامانه ها رفتار ویژه ای را از خود نشان می دهند. دراین تحقیق تحلیل ساختاری و ویژگی های مغناطیسی این چند لایه ای های مورد بررسی قرار خواهند گرفت. ازآنجا که مورفولوژی سطوح طی فرایند رشد، تاثیر به سزایی بر روی ویژگی -های مغناطیسی این چند لایه ای ها دارد، در سال های اخیر مطالعات فراوانی بر روی ناهمواری سطوح و بین لایه ای این قبیل نمونه ها انجام شده است. در این پژوهش دو سری نمونه های co/ru (سری اول دارای بستر ru و سری دوم بدون بستر ru ) مورد مطالعه قرار گرفتند. نتایج بدست آمده از آزمایشات مغناطیسی با استفاده از vsm نشان داد که نمونه هایی که بدون بستر ru بودند همگی دارای ناهمسانگردی درون صفحه ای هستند. برای بررسی سطح نمونه ها از میکروسکوپ نیروی اتمی بهره برده ایم و در نهایت با استفاده از بعد فراکتالی و داده های عددی afm ، به مقایسه نتایج پرداخته-ایم که با تحلیل داده های فوق مشخص شد همگی این نمونه ها، تک فراکتالی هستند. آزمایش های پراش پرتو ایکس نشان داده اند که نمونه ها با نظم بسیار خوبی در جهت (110) رشد یافته اند. تغییرات اندازه دانه، با افزایش تعداد دو لایه ای ها، بدست آمده از پهنا در نیم بیشینه قله براگ، در بیناب پراش بر حسب تعداد دو لایه ای ها مورد مطالعه قرار گرفت. آزمایشات پراش پرتو ایکس نشان داد که چند لایه ای های co/ru تحت کرنش قرارگرفته و قله های سیلیکان کرنشی در بیناب پراش پرتو ایکس دیده شده است. داده های بازتاب سنجی پرتو ایکس که در سینکروترون esrf فرانسه انجام شده مورد مطالعه قرار گرفته میزان ناهمواری سطوح و بین لایه ها با استفاده از شبیه سازی داده ها تعیین و نتایج حاصل با داده های afm مورد مقایسه قرار گرفتند. این مقایسه نشان داد که میزان ناهمواری سطوح به دست آمده با روش afm بیشتر از مقادیر به دست آمده از شبیه سازی داده های بازتاب سنجی پرتو ایکس است. دلیل این تفاوت را می توان به این ترتیب توجیه کرد که سطح مورد آزمایش در روش afm کوچکتر از سطح قابل روبش در روش بازتاب سنجی است.
بهنام علیزاده رضا محسنی
اکنون اهمیت بازار سرمایه و نقش و وظایف آن در پیشرفت و رشد اقتصادی کشورها به ویژه کشورهای جهان سوم به قدری افزایش یافته است که برآن شدیم تا به بررسی عوامل و ابزارهای تاثیر گذار بر این بازار مهم بپردازیم، از طرفی تا کنون اکثر مطالعات انجام شده پیرامون این موضوع به تاثیر سیاست های پولی و ابزارهای مرتبط با آن بر روی بازار سهام به طور تکمیلی نپرداخته است و صرفا به بررسی ابزارهای مستقیم پولی پرداخته است. رساله حاضر با هدف بررسی کلی سیاست های پولی بر روی شاخص بورس اوراق بهادار تهران به دنبال کامل کردن مباحث قبلی پیرامون این موضوع و ارائه نتایج جدید در راستای روابط بین ابزارهای مستقیم و غیر مستقیم سیاست های پولی با بورس اوراق بهادار می باشد و در انتها به بررسی این که آیا بازار سهام در ایران کانالی برای انتقال سیاست های پولی برای رشد و توسعه اقتصادی هست یا خیرمی پردازد.