یکی از پارامترهای فیزیکی قابل حصول از داده های سنجش از دور، بازتابندگی سطح در نواحی مختلف طیف بازتابی الکترومغناطیسی است. تقریبا همه ی پیکسل های شهری تصویربرداری شده توسط سنجنده هایی با قدرت تفکیک مکانی پایین و یا متوسط، تابش ترکیبی حاصل از چندین عارضه با بازتابندگی های متفاوت که درون میدان دید سنجنده بوده اند، را مورد استفاده قرار می-دهند. یک روش برای توصیف محیط های شهری با استفاده از تصاویر سنجش از دور، طبقه بندی پوشش زمین و استفاده از مدل های جداسازی است. یکی از انواع این مدل ها، به منظور تجزیه ی یک پیکسل مختلط در محیط شهری، مدل اختلاط طیفی خطی است. این مدل را می توان به دو دسته ی کلی مدل های جداسازی طیفی و مکانی تقسیم نمود. در مدل های جداسازی طیفی، با استفاده از اطلاعات طیفی مواد موجود در تصویر، می توان درصد حضور هر ماده در پیکسل مختلط را محاسبه نمود. در مدل های جداسازی مکانی، با استفاده از اطلاعات مکانی مواد موجود در تصویر، می توان طیف بازتابندگی هر ماده را در بخش هایی از طیف الکترومغناطیس تعیین نمود. در این تحقیق، با استفاده از اطلاعات مکانی تصویر ikonos با قدرت تفکیک مکانی 4 متر و تعداد 4 باند و اطلاعات طیفی تصویر hyperion با قدرت تفکیک مکانی 30 متر و تعداد 242 باند و روش جداسازی مکانی خطی، طیف بازتابندگی برخی از مواد شهری تعیین گردید. برای ارزیابی نتایج از مقایسه ی رفتار طیفی پیکسل بازسازی شده ی تصویر hyperion و پیکسل واقعی استفاده شد. با تغییر تعداد کلاس ها در طبقه بندی تصویر ikonos و مقایسه ی نتایج، کمترین مقادیر میانگین rmse و relative error و ncc برای 10 کلاس به ترتیب 0.027 و 5.00% و 0.89 بدست آمد. پس از تعیین طیف مواد شهری، تصویری با قدرت تفکیک مکانی 4 متر و 136 باند تهیه شد، که تا حد ممکن تغییرپذیری مواد شهری، در آن لحاظ شده است. این روش برای تصویر aviris با قدرت تفکیک مکانی 4 متر و 30 متر اجرا شد و میانگین طیف بازتابندگی پوشش های بدست آمده با داده های طیف سنجی زمینی مقایسه شد. همچنین در این تحقیق امکان استفاده از الگوریتم ژنتیک در معادلات جداسازی مکانی نیز بررسی شد.