در برخی آزمون های عمر هیچ شکستی رخ نمی دهد و یا شکست های بسیار کمی رخ می دهند. در چنین مواردی تشخیص قابلیت اعتماد با استفاده از آزمون های عمر سنتی، که تنها زمان های شکست را ثبت می کنند، مشکل است. برای برخی محصولات می توان اندازه های تنزل را در طول زمان به دست آورد. این اندازه ها ممکن است شامل اطلاعات مفیدی در مورد قابلیت اعتماد محصول باشند. آزمون های تنزل شتابیده (adt) معمولا برای تشخیص طول عمر چنین محصولات با قابلیت اعتماد بالایی استفاده می شوند. فاکتورهای مختلفی از قبیل فراوانی بازرسی، اندازه ی نمونه و زمان اتمام آزمایش به طور نزدیکی با هزینه ی آزمایش و دقت برآورد شده ارتباط دارند. واضح است که یک انتخاب نامناسب از این متغیرهای تصمیم، نه تنها موجب هدر رفتن منابع آزمون می شود بلکه دقت تجزیه و تحلیل داده ها را نیز کاهش می دهد. در این پایان نامه، طرح بهینه ی یک آزمایش تنزل شتابیده را که در آن نرخ تنزل از توزیع وایبل معکوس پیروی می کند را بررسی می کنیم. تحت این قید که هزینه ی کل آزمایش از بودجه ی از پیش تعیین شده ای بیشتر نشود، متغیرهای تصمیم بهینه با کمترین کردن میانگین توان های دوم خطای pامین صدک برآورد شده ی توزیع عمر محصول در شرایط استعمال طبیعی به دست می آیند. در پایان با استفاده از الگوریتم معرفی شده و برنامه نوشته شده در نرم افزار c++، طرح آزمون بهینه برای لامپ های نورانی ارائه شده است.