نام پژوهشگر: مهسا وهابی

آنالیز سطح های تغییر یافته سیلیکون توسط لیزر با میکروسکوپ نیروی اتمی (afm)
پایان نامه وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه شهید بهشتی - دانشکده علوم 1386
  مهسا وهابی   نسترن منصور

چکیده ندارد.