در این پایان نامه به بررسی کمی یک سیستم تصویربرداری پراش افزوده(diffraction enhanced imaging-dei) پرداخته ایم. بدین منظور مشخصات توان و شار و نحوه توزیع پرتوهای سینکروترون مورد بررسی قرار داده و سپس محاسبات پرتو خط بیم(national synchrotron light source) nsls شامل رزولوشن انرژی و شار رسیده به نمونه را انجام دادیم و در نهایت با ارائه یک مدل برای سیستم dei میزان بهبود کنتراست تصویر در این سیستم نسبت به یک سیستم رادیوگرافی با پرتوهای سینکروترون مقایسه شد. برای مقایسه دو روش کمیت بهره کنتراست را تعریف نمودیم و مقادیر آن را برای دوتصویر جذب ظاهری و پیک در روش dei محاسبه کردیم.