نام پژوهشگر: طاهر رجبی اشمان کماچالی
طاهر رجبی اشمان کماچالی عبدالمهدی ذاکر
امروزه جامدهای بلورین در صنعت الکترونیک نقش مهمی را ایفا می کنند از بلورهای جامد ویفرها یا پولکها تهیه شده که از آنها قطعات الکترونیکی ساخته می شود. شرکت صنایع الکترونیک ایران این پولکها را از شرکتهای خارجی خریداری کرده و قطعات مورد نیاز کشور را با استفاده از این ویفرها می سازد. شناسائی کیفیت نیمه هادی این ویفرها هدف این پروژه بوده است . در این پروژه با اندازه گیری ویژگیهای رسانشی ویفرها کیفیت واقعی آنها با پارامترها و مشخصاتی که شرکتهای سازنده اعلام کرده اند مقایسه شده و همچنین ویفرهای مختلف با یکدیگر مورد بررسی قرار گرفت . به این منظور از روش سونش شیمیایی برای اندازه گیری چگالی نابجائیها استفاده و برای تعیین جهتهای بلوری ویفرها از پراش پرتو ایکس بهره گرفته شد. همچنین جهت تعیین چگالی، حاملها حرکت پذیری و ... آزمایش اثر هال انجام شد. نتیجه هائی که در نهایت به دست آمدند نشاندهنده این واقعیت می باشند که پارامترها و مشخصات اعلام شده برای ویفرها به وسیله شرکتهای سازنده پولکها قابل اعتماد نمی باشند و چنانچه قرار باشد قطعات الکترونیکی دقیقی از آنها ساخته شود باید در آغاز مورد کنترل کیفیت قرار بگیرند.