تغییر شرایط دمایی آماده سازی اولیه اکسید روی و تأثیر آن بر رفتار الکتروفیزیکی واریستورهای کامپوزیتی تهیه شده بر مبنای اکسید روی – پلی پیرول

واریستورهای اکسید روی به طور گسترده ای برای محافظت مدارهای الکترونیکی، تجهیزات پزشکی و لوازم الکتریکی در مقابل افزایش غیر طبیعی موج ولتاژ استفاده می شوند. تا زمانی که ولتاژ اعمالی به اندازه کافی از «ولتاژ شکست» واریستور کوچک باشد، واریستور به صورت یک قطعه نارسانا در مدار عمل می-کند. با توجه به رفتار غیرخطی نمونه ها می توان فرض کرد رسانندگی الکتریکی و هم چنین پارامترهای مهم دیگر، مانند ضریب رفتار غیر خطی و ولتاژ اعمال شده، به وسیله مرزهای دانه های اکسیدروی تعیین می شوند. به این ترتیب که متوسط اندازه دانه ها به طور قابل ملاحظه ای با افزایش دمای پخت افزایش می یابد. با توجه به وابستگی رفتار و خواص الکتروفیزیکی واریستورها به دمای آماده سازی اولیه اکسیدروی، هدف این پژوهش تهیه واریستورهای کامپوزیتی اکسید روی – پلی پیرول در شرایطی است که خود اکسید روی قبل از مخلوط شدن با مواد دیگر در دماهای مختلف حرارت داده شده و سپس رفتار الکتروفیزیکی واریستورهای تهیه شده بررسی خواهد شد. جهت بررسی رفتار الکتروفیزیکی، نمونه هایی به قطر mm 10 به وسیله پرس گرم در دمای 130 درجه سانتی گراد و فشار60 مگاپاسکال تهیه گردید. به منظور بررسی مشخصه (جریان- ولتاژ) نمونه های تهیه شده، پس از الکترود گذاری و با اعمال ولتاژ مستقیم جریان عبوری از آن ها اندازه گیری شد. نتایج به دست آمده از اندازه گیری ها را می توان به صورت زیر خلاصه کرد: افزایش دمای پخت اولیه اکسیدروی، افزایش ولتاژشکست و مساحت منحنی پسماند و نیز کاهش جریان نشتی و طول عمر واریستور را در پی دارد. هم چنین ضریب غیرخطی ? دارای یک مقدار بیشینه در دمای پخت 700 درجه سانتی گراد می باشد. به این ترتیب می توان این دما را به عنوان دمای پخت بهینه اکسیدروی مطرح کرد. از سوی دیگر با افزایش زمان پخت اولیه اکسیدروی در دمای ثابت 700 درجه سانتی گراد، تغییرات مقداری ولتاژ شکست و جریان نشتی یکنواخت نبوده و مقادیر ولتاژ شکست و ضریب غیرخطی تا 3 ساعت کاهش و سپس افزایش می یابد و در مقابل جریان نشتی رفتاری عکس از خود نشان می دهد. تمامی نتایج با استفاده از تصاویر sem تحلیل و بررسی شده اند.