اندازه گیری ضریب شکست و ضریب جذب غیرخطی نانو کلویید نقره به روش روبش z
پایان نامه
- وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه الزهراء - دانشکده علوم پایه
- نویسنده سعیده رحیمی
- استاد راهنما بتول سجاد فاطمه شهشهانی زهرا دهقانی
- سال انتشار 1393
چکیده
در این پایان نامه روش های مختلف روبش z برای بررسی اثرات غیرخطی و اندازه گیری ضرایب شکست و جذب غیرخطی مواد معرفی شده است. و از روش روبش z استاندارد برای اندازه گیری ضرایب شکست و جذب غیرخطی نانو کلویید نقره استفاده شده است.
منابع مشابه
اندازه گیری نمایه ضریب شکست میکروعدسی تخت با ضریب شکست تدریجی به روش عددی
در این مقاله،با استفاده از الگوی تداخلی نیمه دایروی بدست آمده از تداخلسنجی برشی کلی شکل نمایه ضریب شکست تدریجی میکروعدسی تخت با ضریب شکست تدریجی ساخته با فرآیند تبادل یونی تعیین میشود. در ادامه با شبیهسازی انتشار باریکه گاوسی از این میکروعدسی تخت توسط نرم افزار optiwave فاصله کانونی و نیم پهنای موج محاسبه میشود. همچنین نشان میدهیم که نتایج شبیهسازی با نتایج تجربی بدست آمده از نمایه، توافق...
متن کاملاندازهگیری نمایه ضریب شکست میکروعدسی تخت با ضریب شکست تدریجی به روش عددی
در این مقاله،با استفاده از الگوی تداخلی نیمه دایروی بدست آمده از تداخلسنجی برشی کلی شکل نمایه ضریب شکست تدریجی میکروعدسی تخت با ضریب شکست تدریجی ساخته با فرآیند تبادل یونی تعیین میشود. در ادامه با شبیهسازی انتشار باریکه گاوسی از این میکروعدسی تخت توسط نرم افزار Optiwave فاصله کانونی و نیم پهنای موج محاسبه میشود. همچنین نشان میدهیم که نتایج شبیهسازی با نتایج تجربی بدست آمده از نمایه، توافق...
متن کاملاندازهگیری ویژگیهای اپتیکی غیرخطّی لایههای نازک نانوساختاری مس و روی
در این مقاله لایههای نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایهها با استفاده از روش روبش- z اندازهگیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی برای هر دو فلز مس و روی ارائه شده است. برای انجام آزمایش روبش- z از لیزر موج اندازۀ ضریب جذب و ضریب شکست غیرخطی لایههای نازک نانوساختاری مس و روی به کمک نمودارهای آزمایش روب...
متن کاملمعرفی و شبیه سازی روش جدید اندازه گیری ضریب تلفات عایقی و پرمتیویته نسبی
For evaluating quality of electrical insulation, it is necessary to measure the property of insulators. Dielectric constant and loss tangent (tans) are two important parameters for determining the property of insulator. The measurement of above parameters is normally based on the time- domain and frequency-domain, which is costly and time consuming. In this study a multiple-frequency binary se...
متن کاملمنابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده{@ msg_add @}
نوع سند: پایان نامه
وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه الزهراء - دانشکده علوم پایه
کلمات کلیدی
میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com
copyright © 2015-2023