مطالعه خواص اپتیکی لایه های نازک به روش بیضی سنجی
پایان نامه
- وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه بوعلی سینا - دانشکده علوم پایه
- نویسنده حسن شمس
- استاد راهنما داود رئوفی
- تعداد صفحات: ۱۵ صفحه ی اول
- سال انتشار 1393
چکیده
در این تحقیق، لایه¬های نازک اکسید ایندیم قلع (ito) به روش تبخیر با پرتو الکترونی واکنش¬پذیر بر روی زیرلایه¬های شیشه¬ای لایه¬نشانی شده¬اند. لایه¬های نمونه با ضخامت¬های اسمی 100، 150 و 250 نانومتر با نرخ انباشت ثابتnm/s 10/0 تهیه شدند. دمای زیر لایه¬ها در خلال لایه¬نشانی در دمای اتاق نگه داشته شد. با استفاده از روش بیضی¬سنجی ثابت¬های اپتیکی، ضریب شکست(n)، ضریب خاموشی (k) در گستره طول موج 370 تا 1050 نانومتر اندازه¬گیری شدند. درصد عبور و بازتاب بر حسب طول موج با استفاده از طیف¬سنج مرئی فرابنفش (uv-vis) انداز¬¬ه-گیری شدند. با استفاده از روش کرامرز-کرونیگ ثابت¬های اپتیکی اندازه¬گیری شد و با نتایج حاصل از بیضی¬سنجی مقایسه شدند.
منابع مشابه
مطالعه اثر دما روی خواص اپتیکی لایه های نازک مس و نقره به روشهای بیضی سنجی و کریمز-کرونیگ
در این پروژه اثر دمای زیرلایه هنگام لایه نشانی روی ثابتهای اپتیکی لایه های نازک cu و ag در بازه طول موج(2600nm - 200 ) بررسی شده اند. در این پروژه از دو روش برای اندازه گیری ثابتهای اپتیکی نمونه ها استفاده شد. اولین روش ، روش کریمرز- کرونیگ است که با استفاده از داده های تجربی بازتابندگی تحت تابش عمودی در بازه پهنی از طول موج، ثابتهای اپتیکی اندازه گیری می شوند. دومین روش روش بیضی سنجی است . در ...
15 صفحه اولبیضی سنجی عددی لایه های نازک ناهمسانگرد
بیضی سنجی یک روش اپتیکی غیر مخرب و غیر تماسی برای مشخصه یابی سطوح مشترک و لایه های نازک است. این روش بر اساس تغییر قطبش نور به هنگام انعکاس از سطوح استوار است. با انجام بیضی سنجی های عددی و مقایسه آنها با داده های بیضی سنجی تجربی می توان مدل های فیزیکی مناسبی برای سطوح و لایه های نازک ارائه داد. هدف اصلی در این پایان نامه طراحی و اجرای یک کد رایانه ای برای انجام بیضی سنجی عددی از لایه های نازک ...
15 صفحه اولبررسی ثابت دی الکتریک لایه نازک SiO2با استفاده از آزمون بیضی سنجی
In this paper, we studied the optical behavior of SiO2 thin films prepared via sol-gel route using spin coating deposition from tetraethylorthosilicate (TEOS) as precursor. Thin films were annealed at different temperatures (400-600oC). Absorption edge and band gap of thin layers were measured using UV-Vis spectrophotometery. Optical refractive index and dielectric constant were measured by ell...
متن کاملبررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم قلع
در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ITO) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت‌های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (XRD) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (XRR) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...
متن کاملساخت لایه‌های نازک 3SrTiO به روش اسپری پایرولیز و مطالعه خواص ساختاری و اپتیکی آنها
Strontium titanate polycrystalline thin films were prepared by sequent deposition of three TiO2/SrO/TiO2 layers using spray pyrolysis technique. Deposition parameters such as: precursor solution, deposition temperature, flow rate of solution and annealing conditions were optimized to obtain homogeneous transparent films. Prepared thin films have granular microstructure. The optical transmittan...
متن کاملکنترل خواص اپتیکی لایه های نازک Cd1-xZnxS توسط عملیات حرارتی
در این تحقیق نانوذرات (x=0.5, 0.8) Cd1-xZnxS به کمک تابش ماکروویو تهیه شدند. خواص ساختاری نانوذرات با استفاده از پراش پرتو ایکس و (FTIR) و (EDAX) مورد بررسی قرار گرفت. نتایج بررسی هایXRD نشان می دهد که ساختار بلوری نانوذراتCd0.5Zn0.5S از نوع مکعبی و نانوذرات Cd0.2Zn0.8S از نوع هگزاگونال می باشد و کوچکتر شدن اندازه بلورک ها وارد شدن Zn در شبکه را گزارش میدهد. طیف سنجی EDAX مقدار واقعی نمونه ها ر...
متن کاملمنابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده{@ msg_add @}
نوع سند: پایان نامه
وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه بوعلی سینا - دانشکده علوم پایه
کلمات کلیدی
میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com
copyright © 2015-2023