مطالعه ی خواص قطبش باریکه های بازتابی از بلورهای فوتونی یک بعدی

کنترل حالت پلاریزاسیون و فاز در سیستم های اپتیکی نقش مهمی را ایفا می کند. به عنوان مثال: کنترل حالت پلاریزاسیون امواج نوری در گستره ای از کاربردها که شامل توسعه ی سنسورهای اپتیکی، اندازه گیری موج نوری و توسعه ی مدارهای مجتمع و... است، بسیار مهم می باشد. فاز نیز در سیستم های اپتیکی نقش مهمی را در هولوگراف های اپتیکی و مدولاتورهای فازی بازی می کند. همچنین فاز و دامنه ی امواج الکترومغناطیسی اطلاعاتی را در مورد محیطی که نور در آن منتشر می شود حمل می کنند. بنابراین در کنار شناسایی پارامترهای دامنه ای مثل بازتابندگی و عبور، بدست آوردن اطلاعات فازی و قطبش در سیستم های اپتیکی نقش بسزایی دارد. در این پروژه ابتدا وابستگی فرکانسی و زاویه ای بازتابندگی بلورها و شبه بلورهای فوتونی متشکل از مواد عادی و یا متامواد بررسی می شود. سپس تغییرات فاز باریکه های بازتابی از این ساختارها مطالعه می شود و در نهایت تاثیر ساختارهای گاف باندی یک بعدی بر قطبش اشعه های بازتابی از این ساختارها که دارای پلاریزاسیون اختیاری هستند بررسی خواهد شد. نتایج نشان می دهند که اختلاف فاز بین دو موج پلاریزه ی الکتریکی عرضی و مغناطیسی عرضی بازتابی از برخی از این ساختارها، در محدوده ی فرکانسی نسبتا پهنی در داخل باند ممنوعه بدون تغییر باقی می ماند. این ویژگی می تواند برای طراحی جبران کننده ی فاز پهن باند بکار رود. همچنین، تأثیر تغییر ضخامت های دو لایه ی تشکیل دهنده ی بلور فوتونی یک بعدی بر روی اختلاف فاز حاکی از آن است که این ساختارها می توانند به عنوان قطبشگر نیز بکار روند. بعلاوه، خواص فازی امواج بازتابی از شبه بلورهای دو دوره ای یک بعدی نشان می دهند که مقدار اختلاف فاز در محدوده ی فرکانسی پهن باندی، مستقل از شمارنده ی مولد است. روشی که در این پروژه بکار می رود، روش معروف ماتریس انتقال است.