ارایه یک روش جدید جهت تست مدارهای مجتمع

تکامل تدریجی تکنولوژی نیمه هادی این امکان را فراهم کرده که تراشه هایی با پیچیدگی و تواناییهای بیش از پیش طراحی و ساخته شوند. هزینه تست تراشه ها با توجه به توسعه سریع صنعت نیمه هادی و افزایش تعداد مولفه های تراشه ها، هرساله افزایش می یابد و حتی در آینده ممکن است از قیمت ساخت تراشه بیشتر شود. با توجه به هزینه های سنگین تست و عواقب غیرقابل پذیرش عرضه تراشه های معیوب به بازار، مهندسین الکترونیک ناچارند راه های متنوعی برای آزمودن تراشه ها در خط تولید و یا حتی پس از آن برای پیدا کردن و یا اصلاح خطا بیایند. در این نوشته یک روش جدید جهت تست مدارهای مجتمع و تشخیص تراشه های معیوب ارائه شده است. این روش مبتنی بر تحلیل چگالی طیفی امواج em منتشر شده از یک تراشه می باشد. در این روش چگالی طیفی امواج em منتشر شده از یک تراشه در حال تست، اندازه گیری شده و پارامترهای مشخصی از آن محاسبه می گردد. این پارامترها با مقادیر به دست آمده از طیف یک تراشه سالم مقایسه می شود. در صورت تشابه مقادیر، تراشه تست را گذرانده و سالم اعلام می گردد و در غیر این صورت تراشه معیوب در نظر گرفته می شود. جهت بررسی این روش، در ابتدا چگالی طیفی یک تراشه سالم را به دست آورده و سپس به تراشه خرابی اعمال گردید. مجددا طیف تابشی تراشه اندازه گیری شد.اختلافات چشمگیری بین طیفها وجود داشت. جهت بررسی بیشتر صحت این روش برای هر تراشه سه مورد خطا اعمال گردید و پس از اندازه گیری نتایج به دست آمد. در همه موارد پارامترهای مربوط به تراشه معیوب (در هر سه حالت) با تراشه سالم تفاوت چشمگیری داشت. در ادامه جهت انجام بررسی بیشتر، آزمایشات روی fpga انجام شد. که نتایج به دست آمده موید صحت این روش بود. جهت تشخیص تراشه معیوب با استفاده از شبکه عصبی، 1000 مورد اندازه گیری انجام شد و با استفاده از داده های به دست آمده شبکه عصبی مربوطه نیز تعیین گردید. به طوری که با اعمال پارامترهای به دست آمده از یک انداره گیری به شبکه عصبی آموزش داده شده، به سادگی می توان سالم یا معیوب بودن یک تراشه را تشخیص داد.