رشد و مشخصه یابی لایه های نازک cualo2

پایان نامه
چکیده

چکیده در این پایان نامه لایه های نازک اکسید مس آلومینیوم (cualo2) با ضخامت متوسط nm150به روش سل ـ ژل چرخشی و غوطه وری آماده شدند. به منظور بدست آوردن شرایط بهینه سنتز این نمونه ها، اثر پارامتر هایی نظیرنوع زیرلایه، دمای خشک سازی و دمای بازپخت، اتمسفر محیط بازپخت و نسبت مولی آلومینیوم به مس روی خواص ساختاری و اپتیکی نمونه ها بررسی شد. نتایج این مطالعه نشان داد که برای تبلور ساختار بلوری cualo2، انجام عملیات بازپخت در دماهایی در حدود oc1100-750 ضروری است. همچنین محیط بازپخت (خلا یا گاز بی اثر) می تواند خواص ساختاری و اپتیکی لایه ها را تحت تاثیر قرار دهد. مقایسه نتایج بدست آمده نشان دادند که عملیات بازپخت در محیط آرگون منجر به تولید نمونه هایی با کیفیت اپتیکی و ساختاری نسبتاً بهتری می شوند. همچنین این مطالعه نشان داد که انتخاب دمای خشک سازی مناسب نیزمی تواند روی خواص ساختاری و اپتیکی نمونه ها تاثیر مستقیم داشته باشد. نتایج این بررسی نشان داد که دمای خشک سازی مناسب برای لایه های نازک cualo2 به روش سل ـ ژل چرخشی روی زیرلایه کوارتز دمایoc 400 می باشد. اثر ضخامت لایه نیز روی خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک اکسید مس آلومینیوم بررسی شد. این بررسی نشان داد که لایه با ضخامت nm140 از کیفیت ساختاری و اپتیکی بهتری در مقایسه با لایه با ضخامت nm180 برخوردار هستند. در این کار اثر نسبت مولی al/cu نیز روی خواص ساختاری و اپتیکی نمونه ها بررسی شد. به این منظور کیفیت اپتیکی و ساختاری نمونه های تهیه شده با نسبت های مولی 8/0، 1و 2/1 بررسی شد. نتایج این بررسی نشان داد که کیفیت ساختاری و اپتیکی نمونه دارای نسبت مولی 8/0 بهتر از سایر نمونه ها است. کلید واژه: لایه های نازک، سل ـ ژل، خواص ساختاری و اپتیکی

۱۵ صفحه ی اول

برای دانلود 15 صفحه اول باید عضویت طلایی داشته باشید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

رشد و مشخصه یابی لایه های نازک اکسید نیکل

ما در این تحقیق تجربی به مطالعه مورفولوژی، خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی نمونه-های اکسید نیکل خالص و آلایش یافته با در صدهای مختلف مس بر روی زیرلایه شیشه که به روش اسپری پایرولیزیز رشد داده شده اند، پرداخته ایم. آنگاه برای مشخصه یابی نمونه ها از دستگاه-های میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem)، پراش پرتو ایکس (xrd)، طیف سنجی uv.vis، فوتولومینسانس (pl) و اثر هال استفاده کرده ایم. پارامت...

15 صفحه اول

رشد و مشخصه یابی لایه های نازک cd1-xcoxs

لایه های نازک سولفید کامیوم (cds) کاربردهای فراوانی از جمله در سلولهای خورشیدی دارند. در این پایان نامه به لایه نشانی لایه های نازک سولفید کامیوم پرداخته و سعی نمودیم با آلایش عنصر واسطه کبالت خواص فیزیکی آنها را مورد مطالعه قرار دهیم. کار تجربی ما در این پایان نامه شامل سه مرحله است : ابتدا لایه های نازک سولفید کادمیوم به ضخامت حدود 5/1 میکرومتر بر روی زیرلایه شیشه و در دمای محیط به روش تبخی...

15 صفحه اول

رشد و مشخصه یابی لایه های نازک سلنیدروی (znse)

در این کار ابتدا لایه های نازک سلنیدروی (znse) به روش تجزیه گرمایی افشانه ای روی زیرلایه های شیشه ای رشد داده شدند. سپس اثر پارامترهای مختلف رشد نظیر دمای لایه نشانی، آهنگِ شارش محلول، نسبت وزن مولی سلنیوم دی اکساید به کلریدروی، میزان حجم محلول اسپری، دمای بازپخت و همچنین مدت زمان آن بر روی ساختار بلوری و خواص اپتیکی لایه های تهیه شده بررسی شد. بررسی طیف xrd و همچنین تصاویر sem ثبت شده برای نمو...

رشد و مشخصه یابی لایه های نازک سولفید روی

در این پایان نامه خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک سولفید روی رشد داده شده با استفاده از روش سل - ژل چرخشی و غوطه وری بر روی زیرلایه هایی از جنس شیشه و کوارتز مورد بررسی قرار گرفت. طیف های xrd ثبت شده از سطح نمونه ها و نیز تصاویر sem نمونه ها نشان داد که تغییر روش انباشت تأثیری بر بلورینگی لایه ها نداشته است و نمونه های رشد داده شده به روش سل - ژل چرخشی نسبت به نمونه های رشد داده شده به روش ...

15 صفحه اول

رشد و مشخصه یابی لایه های نازک cdzno

با پیشرفت فناوری در سال¬های اخیر لایه های نازک اکسیدهای نیمرسانای شفاف(tco) بر پایه اکسیدروی (zno) واکسیدکادمیومcdo) ) نظیرآلیاژ سه تایی ‍‍cdzno بطور گسترده برای ساخت قطعات اپتوالکترونیکی مانند سلولهای خورشیدی، بازتاب کننده های گرمایی، ولایه های نازک فتوولتائی مورد توجه قرار گرفته اند. در این کار، ابتدا لایه های نازک cd_x zn_(1-x) o به روش سل-ژل روی زیر لایه های شیشه ای و سیلیکونی انباشت شدند. ...

15 صفحه اول

رشد و مشخصه یابی لایه های نازک اکسید ایندیوم (in2o3)

در این تحقیق تجربی به بررسی مورفولوژی، خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی نمونه های اکسید ایندیوم خالص که به روش اسپری پایرولیزیز رشد داده شده اند پرداخته ایم. در این مطالعه برای مشخصه یابی نمونه های رشد یافته از دستگاه های میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem)، پراش پرتو ایکس (xrd)، طیف سنجی uv-vis-nir، فوتولومینسانس (pl) و مشخصه جریان-ولتاژ (i-v) استفاده کرده ایم. در طی این تحقیق به منظ...

15 صفحه اول

منابع من

با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده

{@ msg_add @}


نوع سند: پایان نامه

وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی شاهرود

میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com

copyright © 2015-2023