تهیه و بررسی ساختاری و توان ترموالکتریک لایه های نازک تهیه شده از نانو ذرات bi2te3 بوسیله روش تبخیر حرارتی

پایان نامه
  • وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه رازی - دانشکده علوم
  • نویسنده هانا نظری
  • استاد راهنما محمد الهی
  • تعداد صفحات: ۱۵ صفحه ی اول
  • سال انتشار 1387
چکیده

چکیده ندارد.

۱۵ صفحه ی اول

برای دانلود 15 صفحه اول باید عضویت طلایی داشته باشید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

رشد و مشخصه یابی ساختاری و الکتریکی نانو ذرات Si تهیه شده به روش تبخیر با باریکه الکترونی

نانو ذرات  Siبه روش تبخیر با باریکه بر روی زیر لایه  p-Si(111)در زاویای °0، °75 و °85 ساخته شد. مقاومت سطحی نمونه ها به روش ون در پاو اندازه گیری و با نمونه زیر لایه سیلیکان مقایسه شد. نتائج نشان داد به علت افزایش زاویه از °75 به °85 نانو ذرات سیلیکان با تخلخل بیشتری شکل می گیرند در نتیجه نمونه °85 توانایی حمل جریان بیشتر در ولتاژ های مشابه از خود نشان می دهد. این در حالیست که مساحت سطحی و در ن...

متن کامل

ویژگی‌های ساختاری، ریخت‌شناسی و مغناطیسی لایه نازک فریت Co-Zn تهیه شده به روش اسپری پایرولیز

The structural, morphological and magnetic properties of Co0.5Zn0.5Fe2O4 nanoferrite thin films on glass substrates were investigated by X-ray diffraction (XRD), field emission scanning electron microscopy (FE-SEM) and vibrating sample magnetometer (VSM), respectively. These thin films were deposited by spray pyrolysis method and subsequently calcined at 500 and 600 ˚C. The XRD results reveal th...

متن کامل

عوامل موثر در تهیه لایه های نازک نیمه هادی P/CdTe به روش تبخیر در خلاء

لایه های نازک نیمه هادی تلورید کادمیوم به روش تبخیر در خلاء بر روی زیر لایه های نیکل

متن کامل

تهیه و مطالعه ساختاری لایه های نازک cd1-xznxs به روش تبخیر حرارتی در خلأ

در این پایان نامه لایه های نازک cd1-xznxs تهیه گردیده و خواص ساختاری آنها بوسیله آنالیزهای پراش اشعه ایکس و fesemمورد بررسی قرار گرفت. اندازه بلورک ها، نوع ساختار و پارامترهای ساختاری همچون ثابت شبکه و فاصله صفحات از روی طیف اشعه ایکس نمونه ها محاسبه گردیده و مورد مطالعه قرار گرفت. همچنین پارامترهای کیفی لایه همچون تنش و چگالی دررفتگی ها محاسبه شد. تصاویر fesem چگونگی ساختار دانه ها را نشان داد...

15 صفحه اول

رشد و مشخصه یابی ساختاری و الکتریکی نانو ذرات si تهیه شده به روش تبخیر با باریکه الکترونی

نانو ذرات  siبه روش تبخیر با باریکه بر روی زیر لایه  p-si(111)در زاویای °0، °75 و °85 ساخته شد. مقاومت سطحی نمونه ها به روش ون در پاو اندازه گیری و با نمونه زیر لایه سیلیکان مقایسه شد. نتائج نشان داد به علت افزایش زاویه از °75 به °85 نانو ذرات سیلیکان با تخلخل بیشتری شکل می گیرند در نتیجه نمونه °85 توانایی حمل جریان بیشتر در ولتاژ های مشابه از خود نشان می دهد. این در حالیست که مساحت سطحی و در ن...

متن کامل

بررسی ساختاری و اپتیکی لایه های نازک cds:fe تهیه شده به روش تبخیر آنی

لایه های نازک سولفید کادمیوم آلاییده شده توسط آهن کاربرد های وسیعی در تهیه سلول های خورشیدی و آشکار سازهای نوری، مواد نور رسانا و ترانزیستور های لایه نازک و ... دارند. در تحقیق حاضر، به بررسی خواص ساختاری و اپتیکی سولفید کادمیوم آلاییده با آهن تهیه شده به روش تبخیر آنی و تأثیر میزان آلاییدگی بر روی خواص مزبور پرداخته شده است. در دو فصل آغازین این پایان نامه، ابتدا به آشنایی با لایه های نازک و...

15 صفحه اول

منابع من

با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده

{@ msg_add @}


نوع سند: پایان نامه

وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه رازی - دانشکده علوم

میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com

copyright © 2015-2023