در این تحقیق، لایه های نازک نیمرسانای شفاف اکسید روی به روش اسپری پایرولیزیز بر روی بسترهای شیشه ای تهیه شده است. نخست، اثر حجم محلول اولیه ، آهنگ لایه نشانی و دمای بستر بر روی خواص ساختاری، الکتریکی و اپتیکی لایه های نازک zno بررسی شد. نتایج این بررسی ها نشان داد که حجم محلول، آهنگ لایه نشانی و دمای بستر بهینه برای تهیه لایه های نازک نانوساختار اکسید روی با رسانایی الکتریکی نوع-n و شفافیت اپتی...

ساخت و بررسی خواص مکانیکی و خواص اپتیکی لایه های نازک اکسید روی به روش سل ژل، هدف این پایان نامه بودهاست. نتایج جالبی بدست آمده و آنالیز های مختلفی نیز مثل uv vis و رامان و afm و میکرو سختی انجام گرفته است.

لایه های نازک اکسید روی دارای خواص نیم رسانایی، نوررسانایی، پاییزوالکتریکی می باشد. آنها دارای هدایت الکتریکی و شفافیت اپتیکی بالا در ناحیه مریی، ضریب دی الکتریکی بالا، شکاف انرژی ممنوع بالا، اپتیک غیرخطی بالا و ضرایب پاییزوالکتریکی، صوتی - نوری و الکترواپتیکی بالا می باشد. به واسطه دارابودن این خواص و قیمت پایین، لایه های اکسید روی در ساخت قطعات موج صوتی سطحی (saw)، بسیاری از قطعات الکترواپتیک...

لایه¬های نازک نیمرسانای سولفید روی (zns) از جمله نیمه هادیهای ترکیبی گروههای ii-vi می¬باشد که به دلیل کاربرد وسیعش دراپتو الکترونیک، مانند دیودهای منتشرکننده نور آبی، قطعات الکترولومینسانس و سلولهای فوتو ولتائیک تحقیقات فراوانی روی آن صورت گرفته است. در این تحقیق لایه¬های نازک سولفید در دو دمای مختلف زیر لایهc º 25 وcº 200 و در ضخامتهای مختلفnm 600-nm 100 بر روی زیرلایه شیشه¬ای به روش تبخیر د...

در این پژوهش لایه های نازک روی اکسید و روی اکسید آلاییده شده با مس به روش لایه نشانی حمام شیمیایی تهیه شده است. از محلول آبی روی کلرید برای منبع یون های روی، از متن آمین به عنوان عامل کمپلکس دهنده و از مس استات یک آبه به عنوان منبع یون های مس استفاده شده است. لایه ها توسط طیف سنجی مرئی- فرابنفش (uv-vis)، طیف سنجی فوتولومینسانس (pl)، تبدیل فوریه طیف مادون قرمز (ftir)، الگوی پراش پرتو ایکس (xrd)،...

در این تحقیق لایه نازک نانو ساختار اکسید روی دارای آلایش آلومینیوم و تیتانیم (atzo) به روش سل ژل تهیه گردید. آنالیز فازی توسط تکنیک پراش پرتو ایکس (xrd)، مشاهدات ریز ساختاری و آنالیز عنصری توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fe-sem) و ابزار طیف سنج تفکیک انرژی (edx) انجام شده و زبری سطح با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (afm) مورد بررسی قرار گرفت. نتایج xrd نشان داد که حضور اتمسفر احیای...

رشد برآراسته لایه های نازک یکی از مهمترین تکنیک های تولید ابزارهای الکترونیکی و اپتیکی است. در لایه های برآراسته ی هم خانواده وجود نقص در ساختار، موجب ایجاد کرنش در لایه ها می شود و تغییر شکل نانو ساختارها شدیدا به ساختار ریز آنها مانند نقایص، مرزدانه ها و سطح وابسته است. شبیه سازی کامپیوتری یک راه مناسب برای درک رفتار مواد در مقیاس اتمی است. اکسید روی یکی از مهمترین مواد در صنعت نیمرساناست که...

در این تحقیق نانو لایه های اکسید روی به روش اسپری پایرولیزیز به روی زیرلایه های شیشه ای و سیلیکونی نشانده شد. خواص ساختاری و اپتیکی نانو ساختار های اکسید روی مورد بررسی قرار گرفت. ساختار بلوری لایه های نازک به روش اشعه ایکس مورد بررسی قرار گرفت که وجود یک ساختار بلوری ورتسیت هگزاگونال مشاهده شد. صفحات ترجیحی رشد برای نمونه ها صفحه (002) می باشد. بر ای تعیین ضخامت لایه از بیضی سنجی ا...

در این پایان نامه لایه های ستونی و مورب سولفید روی با روش تبخیر حرارتی در خلاء تهیه گردید وخواص ساختاری و اپتیکی آن به وسیله آنالیزهای fesem و afm و پراش پرتو ایکس و طیف سنجی مورد بررسی قرار گرفت. ثابت شبکه و ساختار بلوری از آنالیز پراش پرتو ایکس و زاویه شیب ستونها نسبت به خط عمود بر زیرلایه و ضخامت لایه ها از آنالیز fesem بررسی شدند. زبری سنجی و ریخت شناسی و تخلخل لایه ها نیز به وسیله آنالیز a...