نتایج جستجو برای: طیف گسیل پرتو ایکس.
تعداد نتایج: 30642 فیلتر نتایج به سال:
هدف از پژوهش حاضر، تولید پوشش محافظ ژرمانیوم-کربن به وسیله فرآیند رسوب دهی شیمیایی از بخار به کمک پلاسما (pecvd) با استفاده از پیش ماده های گازی ژرمان (geh4) و متان (ch4) و سپس مشخصه یابی آن است. برای این منظور، از میکروسکپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem) مجهز به طیف سنج تفکیک انرژی (eds)، پراش سنج پرتو ایکس (xrd)، طیف سنج مادون قرمز تبدیل فوریه (ftir)، طیف سنج فتوالکترون پرتو ایکس (xps)، طی...
ابتدا با بمباران هدفهای جامد به وسیلهی طیفهای الکترونهای تولید شده از برهمکنش لیزر- پلاسما، تولید پرتو ایکس ترمزی با استفاده از کد MCNPX شبیهسازی شد. سپس شبیهسازی تولید نوترون از برهمکنش فوتونهای پرتو ایکس با هدف جامد ثانویه به انجام رسید. هدف از انجام این کار ارزیابی پارامترهای مناسب چشمهی الکترون و هدف برای تولید مؤثر فوتون و نوترون بود. بدینترتیب امکان تعیین بهترین شرایط چشمه و ه...
در این پژوهش لایههای نازک اکسید روی آلائیده با آلومینیوم به غلظتهای 0، 3، 6 و 12 درصد مولی آلومینیوم به روش سل ژل بر روی زیرلایه شیشه ساخته شد. لایههای آماده شده در دماهای °C500-300 به مدت یک ساعت در هوا پخت شدند. پراش پرتو ایکس (XRD) ساختار بلوری ورتسایت هگزاگونال برای لایههای بازپخت شده در دمای بالاتر از °C 400 نشان داد. سپس لایهها تحت تابش پرتو لیزر (nm 248 = λ، KrF) قرار گرفتند. تحول س...
آرایه ای از نانوسیم های اکسید روی از طریق لایه نشانی فلز طلادر محیط خلأ بر روی زیرلایه ی فلز روی به همراه اکسایش حرارتی در هوا در دمای oc 400 و به مدت 4 ساعت ساخته شد. الگویپراش پرتو ایکس مجموعه ای از قله های معینی مطابق با ساختار ورتسایت اکسید روینشان داد. تصویر میکروسکوپ الکترونی روبشی مشخص نمود که نانوسیم های اکسیدروی باطول چندین میکرون تشکیل شده اند. مطالعات طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ی ایکس...
در این مطالعه، برخی از مشخصه های دستگاه پلاسمای کانونی نوع مدر نظیر جریان تخلیه، زمان پینچ، شار یون و شدت پرتو ایکس سخت به طور همزمان برای گازهای آرگون و نیتروژن در شرایط مختلف فشار گاز و ولتاژ بانک خازنی بررسی شده است. مشاهدات نشان داد که پدیده پینچ در جریان تخلیه و نیز شدت یون و پرتو ایکس سخت گسیلی وابسته به انرژی و فشار گاز است. فشار بهینه با بیشترین شار یون گسیلی و بالاترین شدت پرتوی ایکس س...
آرایه ای از نانوسیم های اکسید روی از طریق لایه نشانی فلز طلادر محیط خلأ بر روی زیرلایه ی فلز روی به همراه اکسایش حرارتی در هوا در دمای oc 400 و به مدت 4 ساعت ساخته شد. الگویپراش پرتو ایکس مجموعه ای از قله های معینی مطابق با ساختار ورتسایت اکسید روینشان داد. تصویر میکروسکوپ الکترونی روبشی مشخص نمود که نانوسیم های اکسیدروی باطول چندین میکرون تشکیل شده اند. مطالعات طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ی ایکس...
امروزه مواد متخلخل دارای اهمیت و کاربردهای زیادی در صنعت می باشند. از میان این مواد آلومینای نانو متخلخل به علت داشتن خواص منحصر به فرد می تواند در موارد مختلفی مانند پوشش های مقاوم به فرسایش و غلاف های هدایت کننده الیاف و سیم ها استفاده گردد. با استفاده از روش های iba می توان بدون آسیب رساندن به نمونه از جزئیاتی همچون نوع عناصر، نمایه غلظت بر حسب عمق و ساختار کلی ماده مورد آنالیز با خبر شد. به...
چکیده ندارد.
در این مقاله پس از مروری بر تاریخچهی دستگاههای پلاسمای کانونی، موضوع کانونی شدن پلاسما مطرح، و در پی آن دو دستگاه جدید پلاسمای کانونی نوع مَدِر و نتایج پژوهشی حاصل از مقایسهی آنها معرفی میشوند. هدف اصلی این پژوهش، بررسی چگونگی تأثیر ظرفیت بانک خازنی C0 و القائیدگی مدار L0 ، بر انرژی پرتو ایکس سخت گسیل شده از دستگاههای پلاسمای کانونی نوع مَدِر بوده است. این پژوهش نشان داد که تـأثیر کاهش...
تجزیه با استفاده از باریکهی یونی، به دلیل حساسیت بالا، سریع، بسعنصری بودن، غیرمخرب بودن و عدم استفاده از نمونهسازی به ویژه برای تجزیهی رنگدانهها به طور گسترده استفاده میشود. از طیفسنجی گسیل پرتو ایکس ذره- القایی و طیفسنجی گسیل پرتو گامای پروتون- القایی با باریکهی خارجی به طور همزمان برای نمونههای بزرگ باستانی که در محیط خارج از خلأ تحت تابش قرار میگیرند استفاده میشود. در این کار پ...
نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال
با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید