نتایج جستجو برای: زیرلایه سیلیکونی و تکنیک طیف نمایی فتوگسیلی

تعداد نتایج: 761309  

ژورنال: :پژوهش فیزیک ایران 0
علی بهاری a bahari university of mazandaranدانشگاه مازندران

در نانو ترنزیستورهای دهه اخیر، si(100) به عنوان یک زیرلایه یا بستر مناسب به کار می رود. مسائلی نظیر افزایش جریان تونلی و نشتی با کاهش اندازه قطعات الکترونیکی و بویژه ترانزیستورهای اثر میدانی سبب شده است تا امکان به کارگیری بیشتر آن مورد تردید قرار گیرد. به همین دلیل در کار حاضر تلاش شده است تا با انجام یک سری از آزمایشات و رشد فیلم های فرانازک بر روی هر دو زیرلایه si(100) و si(111) به بررسی نان...

Journal: : 2022

در سال‌های أخیر با افزایش پیچیدگی، سطح عدم­اطمینان نیز یافته است؛ ازاین‌رو مدیریت ریسک زنجیره تأمین یکی از موضوع‌هایی است که موردتوجه سازمان‌ها قرار گرفته است. ریسک‌های موجود تأمین، وارده ناحیه تأمین‌کنندگان پژوهش حاضر به‌کارگیری مدلی به‌منظور ارزیابی صنایع غذایی شی­‌فو، به شناسایی محتمل و اتخاذ تصمیماتی راستای می­‌پردازد. مدل به‌کار‌گرفته‌شده، ترکیبی محاسبات کلامی فازی (FLC) محاسبه مقدار عوامل...

Journal: : 2023

میون‌­ها به دلیل سطح مقطع کوچک برای انجام واکنش، متداول‌­ترین تابش فضایی قابل آشکارسازی در زمین هستند. همانند سایر ذراتی که از طریق برخورد ذرات پرانرژی تولید می‌­شوند، ناپایدار و دارای طیف توزیع طول عمر این مقاله، انرژی میون با استفاده سیستم طیف‌­سنجی دیجیتال اندازه‌­گیری شده است. روش ارایه همه ماژول­ه‌ای الکترونیک هسته‌­ای آنالوگ حذف فرایند شکل­ دهی سیگنال‌­ها ثبت آن­ها صورت نرم­‌افزاری اندازه...

ژورنال: مواد نوین 2015

در این بررسی لایه نازک کربن شبه الماسی بر سلول خورشیدی سیلیکونی پلی کریستال نوع P با استفاده از دو گاز هیدروژن و متان به روش رسوب شیمیایی بخار تقویت شده به کمک پلاسما با منبع تغذیه فرکانس رادیویی        (RF-PECVD) اعمال گردید. سپس چسبندگی پوشش به زیرلایه، ساختار کریستالی، نوع پیوندها، نسبت هیبریداسیون SP2 به SP3، توپوگرافی و مورفولوژی سطح پوشش به ترتیب به وسیله روش­های آزمون نوار چسب، پراش پرتو...

ژورنال: :فصلنامه علمی - پژوهشی مواد نوین 2015
اکبر اسحاقی فخرالدین مجیری اسماعیل کرمی

در این بررسی لایه نازک کربن شبه الماسی بر سلول خورشیدی سیلیکونی پلی کریستال نوع p با استفاده از دو گاز هیدروژن و متان به روش رسوب شیمیایی بخار تقویت شده به کمک پلاسما با منبع تغذیه فرکانس رادیویی        (rf-pecvd) اعمال گردید. سپس چسبندگی پوشش به زیرلایه، ساختار کریستالی، نوع پیوندها، نسبت هیبریداسیون sp2 به sp3، توپوگرافی و مورفولوژی سطح پوشش به ترتیب به وسیله روش­های آزمون نوار چسب، پراش پرتو...

Journal: : 2023

قدرت تفکیک دستگاه طیف‌نگار جرمی به صورت مستقیم شدت یون خروجی و انرژی آن بستگی دارد. مقدار تولید شده جریان باریکه الکترونی وابسته است. از جمله وظایف مدار کنترل چشمه برخورد تنظیم برای رسیدن بهینه می‌باشد. در ساخت پارامترهایی نظیر تثبیت آن، دقیق پتانسل الکتریکی لنز الکترودهای یونی بسیار حایز اهمیت این مقاله با قابلیت انتشار الکترون، پتانسیل نقاط طراحی ساخته شد. کنترلر بر روی طیف نگار 44Varian MAT ...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه مازندران - دانشکده علوم پایه 1390

در ترانزیستورهای فلز-اکسید-نیمه رسانای مکمل (cmos) ضخامت گیت اکسید سیلیکون 1 تا 2 نانومتر است. کاهش ضخامت به 1 نانومتر برای تولیدات آتی این ترانزیستورها سبب افزایش جریان تونلی و همچنین جریان نشتی می گردد. از جمله مواد مناسب اکسید هافنیوم است که ثابت دی الکتریک بالایی دارد، گاف نواری آن پهن بوده و در تماس با زیرلایه سیلیکونی دارای تعادل حرارتی است. در کار حاضر فرایندهایی در جهت سنتز hfo2 به کار ...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه نیشابور - دانشکده علوم پایه 1394

کارکرد پرتو شکاف در سامانه های نوری تفکیک پرتو فرودی به دو پرتو عبوری و انعکاسی است. هدف این پژوهش، طراحی و ساخت نمونه ای از پرتو شکاف های تیغه ای است که قابلیت تفکیک دو ناحیه ی مرئی و مادون قرمز از طیف امواج الکترومغناطیس را دارا باشد. پرتو شکافی که انعکاس آن در ناحیه مرئی و عبور آن در ناحیه مادون قرمز بیشینه باشد. بر این اساس، نوعی طراحی با در نظر داشتن خصوصیات مواد از لایه-های نازک ژرمانیوم،...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - موسسه آموزش عالی غیرانتفاعی و غیردولتی سجاد مشهد - دانشکده برق و الکترونیک 1392

در این گزارش ابتدا به بررسی مدار معادل و المانهای معادل سلف خواهیم پرداخت و سپس عملکرد سلفهای cmos، انواع مختلف سلفهای مجتمع و توپولوژی های مختلف ساخت سلف مورد بحث قرار خواهند گرفت. تکنولوژیهای مختلف ساخت سلف از قبیلmems ،gaas، soi cmos، vlsi cmos و چندین روش برای بهبود ضریب کیفیت سلف نیز معرفی شده است. در مدارات مجتمع، به سلف داخل تراشه با ضریب کیفیت بالا و فرکانس خود رزونانس بالا نیاز است؛ د...

Journal: : 2022

نخستین گام در راستای تحلیل و ارزیابی ریسک‌های زنجیره تأمین شناسایی این ریسک‌ها است. روش‌های مرسوم بر اساس فیلترهای دستی یا خودکار داده‌­محور ارائه شده فیلتر به‌­دلیل محدودیت‌های نمونه‌گیری دارای مشکلات اعتبارسنجی هستند از طرف دیگر مبتنی داده، داده‌های ریسک که پیچیده مبهم هستند، عملکرد ضعیفی دارند. برای پرکرده خلل پژوهشی، پژوهش، چارچوبی تعاملی بین تحلیل‌­گر ماشین حجم وسیعی حوزه مواد غذایی با است...

نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال

با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید