نتایج جستجو برای: جرم مرتعش
تعداد نتایج: 11758 فیلتر نتایج به سال:
در این پژوهش اثر اینرسی اجسام مرتعش بر رفتار دینامیکی نیم فضای الاستیک، همگن و همسانگرد در حالت دو بعدی مورد مطالعه قرار گرفته است. در ابتدا، حل تحلیلی مربوط به تعیین تنش قائم حالت پایدار نیم فضا در شرایط اعمال بار خطی و نواری در حالت دو بعدی ارائه شده است. در ادامه، پاسخ دینامیکی نیم فضای دو بعدی تحت اثر اعمال بار خطی و پی نواری سنگین مورد بررسی قرار گرفت. برای حل مسئله با شرایط مرزی بار خطی ا...
ژیروسکوپ های ارتعاشی با ابعاد کوچک و هزینه کم جایگاه ویژه ای را در صنایع نظامی و غیرنظامی به خود اختصاص داده اند. در ژیروسکوپ های ارتعاشی مبتنی بر ارتعاش جابه جایی هم راستا، جرم رزوناتور تحت تاثیر نیروی هارمونیک، در امتداد تحریک مرتعش می شود. سرعت زاویه ای ورودی باعث اثر کوریولیس و ارتعاش همزمان رزوناتور، عمود بر راستای تحریک شده است که دامنه آن متناسب با مقدار سرعت زاویه ای ورودی است. در این م...
هدف این مقاله بررسی تاثیر نیرو در حین ارتعاشات زیر رزونانس بر خواص مکانیکی و ریز ساختار فولاد ساده کربنی جوشکاری شده تحت فرآیند GMAW می باشد. برای انجام آزمایش، ورق های فولادی ساده کربنی مطابق با دستورالعمل جوشکاری WPS به یکدیگر جوش داده شدهاند. 3 عدد از نمونه ها تحت عملیات ارتعاشی با نیروهای مختلف و یک نمونه به عنوان نمونه شاهد (بدون ارتعاش) در نظر گرفته شده است. آزمایش های سختی سنجی، کشش، ض...
در این پروژه به بررسی، تحلیل و بهینه سازی ارتعاشی دستگاه فیدر ارتعاشی صنعتی (vibratory feeder) پرداخته شده است در فیدرهای صنعتی، مکانیک پیچیده حرکت ذرات بر روی فیدر یکی از مشکلات عمده تحلیل این سیستمها بشمار می آید در اینجا با مدلسازی تقریبی اثر حرکت ذرات بر روی رفتار سیستم با استفاده از مدل جرم معادل به تحلیل و بهینه سازی پارامترهای ارتعاشی سیستم پرداخته شده است یکی از مهمترین مشکلات و موانع م...
ارتعاش سنج لیزر داپلر ابزاری برای اندازه گیری اپتیکی دامنه، فرکانس و سرعت اشیائ مرتعش بدون تماس میباشد. با توجه به کاربردهای متنوع و روزافزون ارتعاش سنج های لیزر داپلر در این مقـاله طرحی ساده و کاربردی از این دستـگاه با استفاده از تداخل سنج مایکلسون و نصب آینه بر روی شیء مرتعش ارائه شده است. فرکانس و دامنه ارتعاش، از جابجایی داپلرِ فرکانس نور لیزر حاصل میشود. با استفاده از این چیدمان آزم...
ارتعاش سنج لیزر داپلر ابزاری برای اندازه گیری اپتیکی دامنه، فرکانس و سرعت اشیائ مرتعش بدون تماس میباشد. با توجه به کاربردهای متنوع و روزافزون ارتعاش سنج های لیزر داپلر در این مقـاله طرحی ساده و کاربردی از این دستـگاه با استفاده از تداخل سنج مایکلسون و نصب آینه بر روی شیء مرتعش ارائه شده است. فرکانس و دامنه ارتعاش، از جابجایی داپلرِ فرکانس نور لیزر حاصل میشود. با استفاده از این چیدمان آزم...
جهت پاسخ هوشمندانه و مناسب سازه ها در برابر بارگذاری های مختلف و عوامل محیطی نیاز به سه سیستم شامل حسگر جهت گرفتن اطلاعات ناشی از پاسخ سازه نسبت به محرکها، پردازشگر جهت پردازش اطلاعات ورودی احساس شده و عملگر جهت واکنش مناسب با توجه به تصمیم گیری پردازش گر می باشد.از آنجا که سازه ها به طور عمـــومی دارای طبیعت پیوسته هستند ، بنابراین حسگری و عملگری به طور موضـــــعی نمی توانند نیازهای کنترلی را ...
میکروسکوپ نیروی اتمی (Atomic Force Microscope) یا به اختصار AFM، ابزاری قدرتمند و ضروری در نانوتکنولوژی است که برای مطالعه، تصویربرداری و شناسایی مواد مختلف با تفکیک اتمی بکار میرود و در سه مد تماسی، غیر تماسی و کوبشی کار میکند. در این مقاله ارتعاشات خمشی تیر یکسرگیردار مورد استفاده در این دستگاه که در مد غیر تماسی نمونه هایی با سختی سطح متفاوت را اسکن میکند بررسی میشود. یافتن فرکانسهای ط...
در این مقاله با استفاده از روش تابع گرین در رهیافت تنگ بست و رژیم پاسخ خطی، به مطالعه ی رسانش الکتریکی یک نانوسیم شامل اتم های سطحی مرتعش که بین دو هادی صلب ساده قرار گرفته است، پرداخته ایم. با بهره گیری از فضای فوک، اثر برهمکنش الکترون ـ فونون را در ضریب عبور الکترونی مورد بررسی قرار داده ایم. نتایج نشان می دهد که مکان قله های تشدیدی رسانش با افزایش قدرت برهمکنش الکترون ـ فونون به سمت انرژی ها...
ارائه روشی برای تعیین همزمان توابع کنترل و مسیر در یک مسأله کنترل بهینه هدایت شده توسط یک سیستم غشا مرتعض مستدیر در دستگاه مختصات قطبی، هدف اصلی این مقاله است. ابتدا با تعیین نوع تابع مسیر و انجام گسستهسازی و سپس استفاده از خواص اندازهها ، مساله خطیسازی میشود. آنگاه با انجام چند گام تقریب زوج توابع کنترل و مسیر تقریباً بهینه به همراه مقدار بهینه تابع هدف از طریق حل یک مسأله برنامهریزی خطی متناهی...
نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال
با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید