به منظور طراحی و تولید ابزار و سامانه های اپتیکی نظیر فیلترهای تداخلی، سلول های خورشیدی و... دردست داشتن پارامترهای اپتیکی لایه های نازک بالاخص ضریب شکست و ضریب خاموشی با دقت بالا بسیار حائز اهمیت است. تاکنون روش های متعددی برای تعیین ضرایب فوق، ازسوی محققان گزارش شده است که به دو دسته کلی وابسته به تداخل و غیروابسته به تداخل تقسیم می شوند. روش بهینه سازی الگوریتم ژنتیک که در دسته دوم قرار می گ...

در این مقاله اثر افزایش تخلخل و تغییرات میکروساختاری سطحی بر روی خواص اپتیکی و دی الکتریکی سیلیکان متخلخل بررسی شده است. تخلخل به عنوان یک ناهمواری سطحی در ابعاد میکرونی یا کوچکتر, که اثرات کوانتومی در فرایند جذب و انعکاس از سیلیکان متخلخل را نشان می دهد و نسبت به خواص اپتیکی سیلیکان کپه ای کاملا متفاوت است, در نظر گرفته می شود. ضرایب اپتیکی سیلیکان متخلخل در فرود عمود و در بازه طول موج 200um≤λ...

در این پروژه اثر دمای زیرلایه هنگام لایه نشانی روی ثابتهای اپتیکی لایه های نازک cu و ag در بازه طول موج(2600nm - 200 ) بررسی شده اند. در این پروژه از دو روش برای اندازه گیری ثابتهای اپتیکی نمونه ها استفاده شد. اولین روش ، روش کریمرز- کرونیگ است که با استفاده از داده های تجربی بازتابندگی تحت تابش عمودی در بازه پهنی از طول موج، ثابتهای اپتیکی اندازه گیری می شوند. دومین روش روش بیضی سنجی است . در ...

پنتا اکسید وانادیم یک نیمرسانای نوع n است که تراز 3d آن در حال پر شدن است. این اکسید فلزی به شکل فیلم نازک کاربردهای وسیعی در پنجره های هوشمند و کلیدهای اپتیکی دارد. بنابراین، تعیین پارامترهای اپتیکی فیلم نازک v2o5 (شامل ضریب شکست و خاموشی) برای طراحی ابزارهای اپتوالکترونیک و پوششهای اپتیکی به صورت فیلم های اپتیکی نازک چند لایه و فیلترها ضروری است.تا کنون روشها و مدلهای مختلف فیزیکی برای محاسبه...

هنگامیکه یک جبهه موج تخت، تکفام و شبه همدوس بر پله ای بتابد؛ به دلیل تغییرات ناگهانی دامنه و فاز در مرز پله، نور بازتابیده پراشیده می­شود و فریزهایی تشکیل می­گردد که به کمک انتگرال فرنل- کیرشهف قابل توصیف می­باشد. اخیرا این نوع پراش کاربردهای متعددی پیدا کرده است، از جمله در اندازه گیری ضخامت لایه های نازک با دقت چندنانومتر، محاسبه ضریب شکست مایعات و جامدات با دقت بالا، تعیین پاشندگی مواد، اندا...

  هنگامیکه یک جبهه موج تخت، تکفام و شبه همدوس بر پله ای بتابد؛ به دلیل تغییرات ناگهانی دامنه و فاز در مرزِ پله، نور بازتابیده پراشیده می­شود و فریزهایی تشکیل می­گردد که به کمک انتگرال فرنل- کیرشهف قابل توصیف می­باشد. اخیرا این نوع پراش کاربردهای متعددی پیدا کرده است، از جمله در اندازه گیری ضخامت لایه های نازک با دقت چندنانومتر، محاسبه ضریب شکست مایعات و جامدات با دقت بالا، تعیین پاشندگی مواد، ان...

در صنعت اسپینترونیک به ترکیبات دوتایی عناصر واسطه مانند بلور cras در فاز شبه پایدار بلندروی، به علت رفتار فرومغناطیسی نیم فلزی آن ها، توجه زیاد شده است. در این مقاله خواص انبوهه cras در دو فاز شش گوشیnias و بلندروی مورد بررسی قرار گرفته است. محاسبات با استفاده از بسته محاسباتی espresso بر مبنای نظریه ی تابعی چگالی و نظریه ی تابعی چگالی اختلالی، با تقریب شیب تعمیم یافته (gga) انجام شده است. نتای...

در این تحقیق ثابت های اپتیکی فیلم های نازک، با استفاده از یک روش اپتیکی که توسط مینکوو پیشنهاد شده است به دقت محاسبه شد. روش مینکوو بر اساس پوش های ماکزیمم و مینیمم طیف بازتاب می باشد که هم قسمت حقیقی و هم قسمت موهومی ضریب شکست مختلط را بدست می دهد. سپس سایر خواص اپتیکی فیلم های نازک از قبیل: ضریب خاموشی، ضخامت، تابع دی الکتریک مختلط، رسانندگی اپتیکی و پارامترهای پاشندگی محاسبه و طیفشان رسم شد....

این مطالعه به منظور تعیین هدایت الکتریکی، ثابت های نوری و گاف نوار نوری فیلم های نازک نانوکامپوزیت pmma/ag که در آن نانوذرات با دو روش آبی و آلی تهیه شده و دو ریخت شناسی کروی و چندوجهی را دارند، انجام شده است. رفتاری که مواد مختلف در مقابل پرتوهای نور مرئی از خود نشان می دهند به عنوان خواص نوری مواد شناخته می شود. به طور کلی خواص اپتیکی هر ماده، با ثابت های اپتیکی آن ماده یعنی ثابت دی الکتریک م...

امروزه، دانستن ثابتهای اپتیکی مواد در صنعت الکترونیک بسیار ضروری است، یکی از روشهای مرسوم برای تعیین این ثابتها، بیضی سنجی است. به کمک یک دو شکافی خاص، دو شکافی قطبی، که امتداد قطبیدگی باریکه های نور خروجی از شکافهای آن بر هم عمودند، بیضی سنجی ساختیم که در عین سادگی کار با آن و دقت مطلوب آن، برخلاف شیوه های معمولی بیضی سنجی به تیغه های تاخیرانداز، نیاز ندارد.در این پایان نامه، طراحی و ساخت دستگ...