یکی از مهم ترین چالش ها برای سیستم های دیجیتال در مقیاس نانو، کاهش قابلیت اطمینان ناشی از افزایش نرخ خطای نرم این سیستم ها می باشد. با رسیدن ابعاد تکنولوژی cmos به مقیاس نانو، نرخ خطای گذرای چندتایی ناشی از برخورد یک ذره پرانرژی به سطح تراشه ها بیش از نرخ خطای گذرای تک رخدادی خواهد بود. بنابراین، در فرآیند طراحی این سیستم ها، تکنیک های بهینه سازی باید به صورت آگاه از خطاهای گذرای چندتایی انتخاب...

در این پایانامه ، ابزاری برای ارزیابی تحمل پذیری در مقابل اشکال ، مبتنی بر شبیه سازی با استفاده از vhdl طراحی و پیاده سازی شده است. ارزیابی اتکاء پذیری شامل دوگام می باشد. تزریق اشکال در درون مدل توصیفی vhdl و ارزیابی نتایج شبیه سازی.

ناپایداری های تک رخدادی (sets) به علت افزایش فزاینده ی کوچک سازی قطعات، کاهش منبع تغذیه و افزایش فرکانس عملیاتی، برای سیستم های سیگنال مختلط مسئله ی بسیار مهمی شده است. برای مقابله با setها، اغلب سخت کنندگی تابشی برای افزایش اتکاء پذیری سیستم های سیگنال مختلط استفاده می شود. در کاربردهای فضایی، کارایی حلقه قفل فاز (pll) بدلیل تأثیر تابش کاهش می یابد. با افزایش تعداد مدارهای سیگنال مختلط، استفاد...

امروزه از پردازنده ها و میکروکنترولرها در سیستم های تعبیه شده به شکل وسیعی استفاده می شود. تحقیقات نشان می دهند که نرخ رخداد اشکال در هر نسل از تراشه ها به دلیل کاهش اندازه قطعه و ولتاژ و همچنین بالا رفتن فرکانس کاری، تقریباً 8% افزایش می یابد و این مطلب ضرورت استفاده از روش های بهینه ی کشف و تصحیح خطا را برای بهبود قابلیت اطمینان و ایمنی سیستم های تعبیه شده، روزبه روز بیشتر می کند. مکانیزم های ...

برای غلبه بر نیازهای روز افزون در زمینه الکترونیک و تکنولوژی استفاده از سیستم های چند پردازنده ای یک ضرورت اجتناب ناپذیر شده است. یکی از چالش های اصلی برای سیستم های چند پردازنده ای بحث ارتباطات هسته های پردازشی و حافظه ای می باشد. با پیشرفت تکنولوژی هر روز بر تعداد هسته های موجود در یک تراشه افزوده می شود به طوری که دیگر استفاده از روش های سنتی مانند گذرگاه مشترک یا اتصال نقطه به نقطه کارا و...