نتایج جستجو برای: بازتاب سنجیِ پالس

تعداد نتایج: 30176  

مصطفی فاطمی

سیستمهای تصویرگر فرا صوتی نوع بازتاب پالس ، کاربردهای متعددی در عکسبرداری پزشکی دارند . در زمینه شیوه عمل این سیستم ها تا بحال کارهای مختلفی انجام شده است . این مقاله نتیجه تحقیقاتی است که برای بدست آوردن مدل ریاضی جدیدی جهت مدل سازی سیستم تصویرگر بازتاب پالس خطی با ترانسدیو سرگوسی صورت گرفته است . مدل ریاضی سیستم را غالبا با تابع پاسخ نقطه مشخص می کنند . این تابع بیانگر تصویر جسمی است که به صو...

Journal: :Mechanic of Advanced and Smart Materials 2022

یکی از جذاب ترین روش های ماشینکاری مدرن، تخلیه الکتریکی است که در اواخر دهه 1960 معرفی شد. با سیم کاربردهای مختلفی دارد، جمله دقت بالا تمام مواد رسانا مانند فلزات، آلیاژهای فلزی، گرافیت و سرامیک همچنین صنایع هوافضا، خودروسازی سایر صنایع. به منظور افزایش سرعت کاهش زبری سطح عرض شکاف، پارامترهای برش بهینه نقش مهمی انتخاب خروجی دارند. این مطالعه، ورودی (دبی، مدت پالس، فرکانس سیم، کشش جریان دی الکتر...

ژورنال: :مهندسی مکانیک مدرس 0
ایوب بنوشی سازمان انرژی اتمی ایران ادریس محمدی دانشجوی کارشناسی ارشد محسن بروغنی دانشجوی کارشناسی ارشد

بررسی تغییرات بسامدیِ امپدانس اکوستیکی می تواند نقش مهمی در شناسایی، و بهینه سازیِ یک ساز داشته باشد. برای یک لوله ی ساده امپدانس (پاگیری) اکوستیکیِ ورودی با روش های تحلیلی قابل محاسبه است، اما برای اشکال هندسی پیچیده مثل سازهای بادی نمی توان امپدانس اکوستیکیِ ورودی را با روش های تحلیلی به سادگی محاسبه کرد؛ از این رو، امپدانس اکوستیکیِ ورودیِ سازهای بادی را اندازه می گیرند. این مقاله، گزارش نخستین آز...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه بوعلی سینا - دانشکده علوم پایه 1393

در این پژوهش، کندگی لیزری بر روی ویفر سیلیکون کریستالی در سوسپانسیون اکسید گرافن – (ان- متیل -2 - پیرولیدون) با استفاده از لیزر پالسی nd:yag با طول موج 1064 نانومتر و عرض پالس230 نانوثانیه انجام شد. انرژی پالس های بکار برده شده در آزمایش 1 ، 5/1 و2 میلی ژول بودند. سطح ویفر سیلیکون با میکروسکوپ نوری و میکروسکوپ الکترونی روبشی مورد مطالعه قرار گرفت. نتایج نشان دادند که کندگی سیلیکون در مایع با لی...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه مازندران - دانشکده علوم پایه 1390

پالس های لیزری پرشدت امکان ایجاد آینه های پلاسمایی را توسط الکترون های نوسانگر فوق نسبیتی فراهم کرده اند. اخیرا دو نوع از این آینه های نسبیتی با ضرایب نسبیتی بزرگ،?>100برای ایجاد جابجایی بسامدی بزرگ،4?^2 در پالس بازتابی به همراه فشرده سازی و تمرکز چنین پالس هایی مورد توجه قرار گرفته اند. تجمیع این اثرات تقویت فوق العاده ی شدت نور را تا مقادیری موسوم به شکست خلاء (حد شوینگر) نتیجه می دهد. یکی ...

ژورنال: :سنجش از دور و gis ایران 0
کاظم رنگزن دانشگاه شهید چمران اهواز عادل ساکی دانشگاه شهید چمران اهواز عظیم صابری دانشگاه شهید چمران اهواز حسین حسن شاهی دانشگاه شهید چمران اهواز

مطالعه آلومینوسیلیکاته (al2sio5) آندالوزیت، کیانیت و سیلیمانیت، از جنبه های اقتصادی و همچنین شرایط تشکیل آن ها اهمیت دارد. به منظور مطالعه طیف مربوط به این پلی مورف ها، منطقه دگرگونی هاله الوند همدان و رگه های سیلیسی دارای این آلومینوسیلیکات ها انتخاب شده است. برای نیل به این هدف پس از مطالعات صحرایی و پتروگرفی نمونه ها، آنالیز طیف سنجی با دستگاه field spec®3 صورت گرفت و براساس نتایج به دست آمد...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه بوعلی سینا - دانشکده علوم پایه 1392

در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ito) به روش تبخیر با پرتو الکترونی واکنش پذیر بر روی زیرلایه های شیشه ای لایه نشانی شده اند. لایه های نمونه با ضخامت های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر با نرخ انباشت ثابت nm/s 10/0 تهیه شدند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک بازتاب سنجی اشعه ایکس (xrr) با زاویه نور خراشان، برای مشخصه یابی ...

ژورنال: :پژوهش سیستم های بس ذره ای 2015
احسان پارسیان پور مجتبی روستائی فریدون سموات جهانگیر جعفری رحمان بهرام سهرابی

در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ito) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (xrd) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (xrr) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...

ژورنال: :پژوهش فیزیک ایران 0
سیدسعید سیوف جهرمی ss soyouf jahromi سیدفرهاد مسعودی sf masoudi

در دهه های اخیر بازتاب سنجی نوترونی با نوترون های قطبیده به منظور مطالعه ساختار سطوح کاربردهای فراوانی یافته است. به طور مثال با اندازه گیری شدت و قطبش نوترون های بازتابیده از یک لایه مجهول با زیرلایه فرومغناطیس می توان نوع و ضخامت نمونه را تشخیص داد. اصول بازتاب سنجی نوترونی بر اساس حل معادله شرودینگر یک بعدی و یافتن ضریب بازتاب در مرز دو محیط ناپیوسته استوار است. در این مقاله با پیوسته در نظر...

در این پژوهش، نانوذرات اکسید تیتانیوم آلاییده با آهن در غلظت مولی Fe/Ti از 1 تا 10% و دمای بازپخت 400 تا oC800 توسط طیف سنجی پراش اشعه x ، تصویربرداری میکروسکوپ الکترونی تراگسیلی (TEM) و طیف سنجی بازتاب پخشی (DRS) مورد مطالعه قرار گرفت. اندازه نانوذرات سنتز شده با استفاده از تصویربرداری میکروسکوپ الکترونی تراگسیلی از 6 تا nm 100 تخمین زده شد. مطالعات اپتیکی طیف سنجی بازتاب پخشی نشان داد که آلای...

نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال

با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید