نتایج جستجو برای: ژل لایه نازک دی اکسیدقلع حسگر گاز

تعداد نتایج: 58930  

پایان نامه :دانشگاه تربیت معلم - تهران - دانشکده علوم 1390

چکیده: در این رساله، اثر توان rf بر خواص لایه ی نازک sio2 بررسی شده است. دی اکسید سیلیکان با روش لایه نشانی بخار شیمیایی بکمک پلاسما بر زیرلایه ی gaas انباشت می شود. از این لایه بعنوان لایه ی دی الکتریک در افزاره های متشکل از ساختار فلز - اکسید – نیمرسانا (mos) استفاده می شود. مشخصه های لایه با تغییر توان rf قابل کنترل است. با افزایش توان rf، نرخ لایه نشانی افزایش می یابد که منجر به تغییر خوا...

ژورنال: شیمی کاربردی 2018

یک ‌حسگر الکتروشیمیایی بر پایه ترسیب فیلم پلیمری به روش الکتروشیمیایی، برای اندازه‌گیری همزمان مشتقات دی هیدروکسی بنزن به روش ولتامتری پالس تفاضلی، بر سطح الکترود کربن شیشه تهیه شد. این حسگر توسط اصلاح سطح الکترود کربن شیشه‌ای با لایه پلیمر سیاه اریوکروم تی به روش الکتروشیمیایی به آسانی تهیه شد. رفتار الکتروشیمیایی کتکول، رزورسینول و هیدروکینون در سطح الکترود اصلاح شده مورد مطالعه قرار گرفت. ; ...

�لایه های نازک نیترید سیلیکون برروی زیرلایه بس کریستال سیلیکون و شیشه نازک بااستفاده از روش کندوپاش RF لایه نشانی شده اند. لایه نشانی یک بار در محیط گاز آرگن و بار دیگر در محیط گاز نیتروژن انجام شده� است. با تغییر توان لایه نشانی نسبت نیتروژن و سیلیکون موجود در لایه تغییرمی کند و لایه هایی با خواص نوری متفاوت به دست می آید. تأثیرات ناشی از تغییرات توان RF برروی خواص نوری و ترکیبات موجود در لایه...

ژورنال: :علوم و مهندسی سطح ایران 0
اکبر اسحاقی دانشکده مهندسی مواد و متالورژی، دانشگاه صنعتی مالک اشتر اکبر داودی دانشکده مهندسی مواد و متالورژی، دانشگاه سمنان محمد تجلی دانشکده مهندسی مواد و متالورژی، دانشگاه سمنان امید میرزایی دانشکده مهندسی مواد و متالورژی، دانشگاه سمنان

در این تحقیق لایه نازک نانو ساختار اکسید روی دارای آلایش آلومینیوم و تیتانیم (atzo) به روش سل ژل تهیه گردید. آنالیز فازی توسط تکنیک پراش پرتو ایکس (xrd)، مشاهدات ریز ساختاری و آنالیز عنصری توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fe-sem) و ابزار طیف سنج تفکیک انرژی (edx) انجام شده و زبری سطح با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (afm) مورد بررسی قرار گرفت. نتایج xrd نشان داد که حضور اتمسفر احیای...

پایان نامه :دانشگاه تربیت معلم - تهران - دانشکده علوم 1393

سیلیکان متخلخل (ps) ماده ای است که توسط فرآیند سونش با روش آندیزاسیون الکتروشیمیایی سطح سیلیکان بدست می آید.این ماده خصوصیات متفاوتی را در مقایسه با سیلیکان از خود بروز می دهد،برای مثال بالا بودن نسبت سطح به حجم آن، که منجر به به کارگیری اش به عنوان حسگر گازی شده است. به منظور بهبود خواص الکتریکی سیلیکان متخلخل، برومو ایندیم فتالو سیانین (brinpc) روی آن لایه نشانی شده است، در نتیجه قطعه ی ساند...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - پژوهشگاه مواد و انرژی - پژوهشکده نیمه هادیها 1391

چکیده در این پژوهش لایه های نازک باریم استرانسیم تیتانات (ba1-xsrxtio3) با استوکیومتری های 4/0، 3/0، 2/0، 1/0=x به روش سل-ژل تهیه شدند. برای تهیه سل 25/0 مولار، از نمک های فلزی باریم استات و استرانسیم استات، آلکوکسید فلزی تیتانیم تترا ایزوپروپوکساید با استوکیومتری مناسب، حلال های استیک اسید و 2-متوکسی اتانول و همین طور از استیل استون به عنوان پایدار کننده استفاده شد. لایه نشانی فیلم های bst با...

ژورنال: :بلورشناسی و کانی شناسی ایران 0
محمد یونسی department of physics, islamic azad university, amol branch, amol-iranدانشکده فیزیک، دانشگاه آزاد اسلامی واحد آمل مرتضی ایزدی فرد deparrtment of physics, shahrood university of technology, shahrood-iranدانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شاهرود محمد ابراهیم قاضی deparrtment of physics, shahrood university of technology, shahrood-iranدانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شاهرود فرهاد اسماعیلی قدسی department of physics, guilan university, rasht-iranدانشکده فیزیک، دانشگاه گیلان، رشت

لایه­های نازکzn0.97tm0.03o (tm = co, fe)  روی زیر لایه­های شیشه­ای با روش سل-ژل رشد داده شدند و اثرات جاینشانی فلزات واسطه بر روی خواص ساختاری و اپتیکی لایه­های zno مورد بررسی قرار گرفت. طیف­های حاصل از پراش پرتو x از نمونه­ها نشان داد که تمام لایه­ها دارای ساختار ورتسایت می­باشند. طیف تراگسیل نوری در بازه طول موجی 200-800 نانو متر برای نمونه­ها ثبت گردید و با استفاده از آن گاف نواری لایه­ها مح...

ژورنال: نانو مواد 2012
احسان مرزبان‌راد بابک رئیسی ساسان قشقایی نادی شجاعی

در پژوهش حاضر، از اعمال میدان الکتریکی غیریکنواخت به عنوان روشی ساده و کم هزینه جهت انتقال و جابجایی نانوذرات سرامیکی با هدف ساخت حسگر گاز استفاده گردید. بدین منظور، لایه‌نشانی الکتروفورتیک نانوذرات اکسید روی بر روی الکترودهای هم صفحه از جنس طلا در ولتاژ V 35 و زمان  min15 در محیط استون خالص به منظور دستیابی به لایه­ای بدون ترک به انجام رسید. تصاویر بدست آمده از میکروسکوپ نوری (OM) و الکترونی ر...

ژورنال: :پژوهش فیزیک ایران 0
عباس باباپور a babapour sharif university of technologyدانشگاه صنعتی شریف لاله سمیعی l samii sharif university of technologyدانشگاه صنعتی شریف امید اخوان o akhavan sharif university of technologyدانشگاه صنعتی شریف علیرضا مشفق a r moshfegh sharif university of technologyدانشگاه صنعتی شریف

در این تحقیق، سیستم لایه نازک 2 ag-sio با غلظتهای مختلف نقره (2/0%، 4/0%، 6/1% و 8%) بر سطح زیرلایه soda-lime ساخته شدند. پس از مرحله پخت نمونه ها، بررسی خواص فیزیکی و شیمیایی لایه های نازک سیلیکا (2 sio ) حاوی نانوذرات نقره، توسط اندازه گیریهای اپتیکی برای تعیین خواص نوری لایه ها، توپوگرافی و ریزساختار نمونه ها توسط میکروسکوپ نیروی اتمی ) (afm و میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) ، اندازه گیری دقی...

ژورنال: :مدلسازی در مهندسی 0
وفا جهانگیر v. jahangir رضا ریاحی فر r. riahifar مازیار صهبا یغمایی m.s. yaghmaee

در تحقیق پیشرو برای بررسی پدیده ذوب سطحی صفحات متفاوت کریستالی فلزات، مدلی ترمودینامیکی در مثال فلز مس ارائه شده است. این مدل دربرگیرنده انرژی های سطحی فصل مشترک لایه های نازک فلز با گاز، سطح لایه ذوب شده با گاز و فصل مشترک جامد با مایع می باشد و در آن تاثیر انرژی سطحی لایه ها، تعداد لایه ها و نیز جهت گیری کریستالی لایه های فلزی بر روی استحاله ذوب مورد بررسی قرار گرفته است. در ادامه با اعمال تا...

نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال

با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید