نتایج جستجو برای: میکروسکوپ afm
تعداد نتایج: 21441 فیلتر نتایج به سال:
در این مقاله استفاده متوالی از دو روش کندوسوز لیزری و احیای خودبخودی به عنوان یک روش ترکیبی موفق برای تولید نانوذرات دوتایی pd-moo3-x گزارش می شود. در ابتدا نانوذرات اکسید مولیبدن به روش کندوسوز لیزری در محیط مایع، شامل h2o یا h2o2 با استفاده از لیزرهای پالسی اگزایمر (krf, λ=248 nm) و یا حالت جامد (nd:yag, λ=1064 nm) ساخته شدند. سپس محلول pdcl2 با غلظت های مختلف به نانوذرات کلوییدی افزوده شد تا...
در سالهای اخیر چیتوسان به جهت زیستسازگاری و زیستتجزیه پذیری بسیار مورد توجه قرار گرفته است. غشاءهای چیتوسان با ضخامت 30 میکرومتر تهیه شدند و با استفاده از یون آرگون اصلاح گردیدند. غشاءها با استفاده از سه انرژی 15، 25و80 کیلو الکترون ولت و با شارهای 1015 × 1، 1015 × 3 و1015 × 5 یون بر سانتیمترمربع بمباران شدند. تأثیرات بمباران یونی بر روی خواص پایه ای غشاءها مانند مورفولوژی، جریان آب نفوذ کننده ...
Atomic force microscopy (AFM) provides a method for detecting nanoscale structural information. First, this review explains the fundamentals of AFM, including principle, manipulation, and analysis. Applications of AFM are then reported in food science and technology research, including qualitative macromolecule and polymer imaging, complicated or quantitative structure analysis, molecular inter...
The atomic force microscope (AFM) and its derivative technologies have heralded a new era in science and technology. AFM and related instruments were primarily designed by physicists. In recent years there is a substantial presence of engineers with controls and systems background who are contributing to AFM related technologies. This article provides a tutorial on the control and systems appro...
physical, mechanical and structural properties of poly(lactic acid) (pla)-basedfilms containing different amounts of nanoclay and cellulose prepared bysolvent casting method were examined. physical properties including thickness,transparency and color did not change significantly with addition of nanoparticles to the polymer matrix. x-ray diffraction (xrd) patterns showed that pure pla has a se...
در این پژوهش، کامپوزیت و نانوکامپوزیت رسانای جدید از پلی آنیلین به روش پلیمرشدن اکسایشی شیمیایی در جای آنیلین روی بستر سولفوریک اسید برپایه سیلیکا و نانوسیلیکا تهیه شد. در این فرایند آمونیوم پرسولفات به عنوان اکسنده عمل می کند و واکنش در شرایط حالت جامد (بدون حلال) درون هاون در دمای محیط انجام شد. ساختار، اندازه و شکل شناسی تمام نمونه ها با استفاده از روش های طیف سنجی زیرقرمز تبدیل فور...
در این پژوهش، فیلم‌های نانوزیست‌کامپوزیت جدید نشاسته سیب‌زمینی حاوی نرم‌کنندۀ گلیسرول و چهار سطح نانوذرۀTiO2 (0، 5/0، 1 و 2% وزنی- وزنی نشاسته) به روش قالب‌ریزی تهیه شدند. بررسی ریزساختار فیلم‌های نانوبیوکامپوزیتی توسط آزمون‌های میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و طیف‌سنجی فروسرخ (FT-IR)، به‌ترتیب پخش یکنواخت نانوذرات TiO2در ماتریس نشاسته، ایجاد پیوندهای هیدروژنی و برهمکنش‌های الکترواستاتیک بین آنها ...
در این پژوهش، در دو بخش به بررسی حساسیت فولاد زنگ نزن دوفازی 2205 پرداخته شده است. در بخش اول، محلول جدیدی جهت اندازه گیری درجه ی حساسیت فولاد مذکور ارائه شده است. برای این منظور، سه نمونه از فولاد مورد نظر با درجه ی حساسیت های مختلف تهیه شده و با استفاده از روش های الکتروشیمیایی موجود، درجه ی حساسیت آن ها در محلول ارائه شده در منابع و محلول جدید ارائه شده در پژوهش حاضر، اندازه گیری و مقایسه شد...
atomic force microscopy (afm) is a three-dimensional topographic technique with a high atomic resolution to measure surface roughness. afm is a kind of scanning probe microscope, and its near-field technique is based on the interaction between a sharp tip and the atoms of the sample surface. there are several methods and many ways to modify the tip of the afm to investigate surface properties, ...
Atomic force microscopy (AFM) is a state of the art imaging system that uses a sharp probe to scan backwards and forwards over the surface of an object. The probe tip can have atomic dimensions, meaning that AFM can image the surface of an object at near atomic resolution. Two big advantages of AFM compared to other methods (for example scanning tunneling microscopy) are: the samples in AFM mea...
نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال
با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید