نتایج جستجو برای: کندوپاش
تعداد نتایج: 162 فیلتر نتایج به سال:
لایه های نازک مولیبدن با ضخامتnm 50، با استفاده از سیستم کندوپاش مغناطیسی بر روی زیرلایه (400) si انباشت شدند و در دماهای مختلف (?700، 575، 450، 325، 200) در حضور شار ثابت اکسیژن (cc/min200) بازپخت شدند. ساختار بلوری نمونه ها با پراش اشعه- x تحلیل شد و از یک میکروسکوپ نیروی اتمی(afm) برای بررسی ریخت شناسی سطح نمونه ها استفاده شد. مقاومت ویژه لایه های نازک اکسید مولیبدن نیز با استفاده از ابزار چ...
در این پایان نامه با استفاده از نتایج شبیه سازی توسط برنامه های wxamps و بهینه کردن نتایج، داده های اولیه جهت ساخت سلول خورشیدی کادمیوم تلوراید فیلم نازک را به دست آمده است. سلول مذکور دارای 4لایه sno2(اتصال جلویی)، zno(لایه بافر)، cds(لایه پنجره ای)، cdte(لایه جاذب) می باشد. ایده به کار گرفته شده در این تحقیق، بهبود بازدهی به کمک اضافه کردن لایه بافر و بهینه کردن ضخامت لایه های مختلف می باشد. ...
پوشش نانوکامپوزیتی نیترید تانتالم - طلا / نقره به?وسیله دستگاه لایه نشانی استوانه?ای کندوپاش D.C بر روی زیرلایه?هایی از جنس استیل ضدزنگ 316 انباشت شده است. نمونه?ها در دمای400 درجه سیلسیوس و زمان?های مختلف 3، 5 و 7 دقیقه تحت عملیات حرارتی قرار داده شده?اند. ساختار کریستالی، توپوگرافی، مورفولوژی و عناصر موجود در لایه?ها به ترتیب توسط پراش اشعه ایکس، میکروسکوپ نیروی اتمی و تفرق انرژی اشعه ایکس مو...
در این پژوهش، اثر کاشت یون +N در نیمرسانای ZnO (اکسید روی) جهت بررسی تغییرات خواص لایۀ نازک ZnO بررسی شده است. بدین منظور لایۀ نازکی از ZnO به ضخامت nm ١٢۰ با استفاده از روش کندوپاش تهیه شد و سپس به وسیلۀ یونهای N+ با انرژی keV ۵۰ و شار ١۰١٤ (/cm2یون) به مدت زمان ۳ ثانیه بمباران شد. تأثیر کاشت یون+N در خواص بلوری ZnO توسط آنالیزXRD (پراش پرتو X) و تغییرات ریختشناسی سطح به وسیلۀ آنالیزهای AF...
در این پژوهش به ساخت و بررسی ویژگی پوشش کامپوزیتی Cu-Ni3Al-MoS2 با روش رسوب فیزیکی بخار انجام شده است. جهت ساخت این پوشش با استفاده از روش پراکنش مگنترونی، از بهترین پارامترها برای ساخت پوشش استفاده شد. پوشش Cu-Ni3Al-MoS2 با توجه به حضور عناصر به کار رفته از خواص روانکاری و رسانایی خوبی برخوردار بوده و در صنایع هوایی در نواحی و اتصالاتی که تحت لغزش قرار می گیرند به کار گرفته می شود. بدین منظور ...
�لایه های نازک نیترید سیلیکون برروی زیرلایه بس کریستال سیلیکون و شیشه نازک بااستفاده از روش کندوپاش RF لایه نشانی شده اند. لایه نشانی یک بار در محیط گاز آرگن و بار دیگر در محیط گاز نیتروژن انجام شده� است. با تغییر توان لایه نشانی نسبت نیتروژن و سیلیکون موجود در لایه تغییرمی کند و لایه هایی با خواص نوری متفاوت به دست می آید. تأثیرات ناشی از تغییرات توان RF برروی خواص نوری و ترکیبات موجود در لایه...
امروزه اندرکنش یون ها با سطوح جامد در حوزه های مختلفی از جمله مطالعات میکروسکوپیک و طیف سنجی جهت آنالیز سطح کاربردهای وسیعی یافته است. در این پایان¬نامه پدیده¬¬هایی که از اندرکنش یون¬ها و الکترون¬ها با اتم¬های هدف رخ می¬دهد مطالعه شده و مورد مقایسه قرار گرفته است. با انتخاب 5000 یون گالیم، اندرکنش آن¬ها بر روی سطح کربن در مقیاس 110 نانومتر و بر روی سطح مس در مقیاس 80 نانومتر صورت گرفته است. همچ...
ما در این پژوهش به منظور شناسایی گاز سمی کربن منواکسید اقدام به ساخت حسگرهای الکتروشیمیایی این گاز نموده ایم. به منظور ساخت الکترودهای کربنی این حسگرها از روش های موجود در منابع مانند ساخت خمیر کربنی و لایه نشانی با استفاده از روش کندوپاش استفاده گردید علاوه بر روش های ذکر شده در این پژوهش روشی جدید مبتنی بر لایه نشانی الکتروفورتیکی ذرات کربن پلاتینیزه برای ساخت الکترود کربنی شرح داده شد. همچنی...
در تحقیق حاضر اثر دمای زیرلایه در محدوده ºC 400-36 بر خواص ساختاری و فیزیکی لایه نازک کربن ایجاد شده بر سطح شیشه به روش کندوپاش پرتو یونی بررسی شده است. خواص نوری و ساختاری لایه به ترتیب به وسیله طیف سنجی UV-visible، طیف سنجی رامان و میکروسکوپ نیروی اتمی مورد مطالعه قرار گرفته است. اندازهگیری طیف عبور نمونه ها کاهش میزان عبور نور در محدوده مرئی با افزایش دمای انباشت را نشان می دهد. طیف رامان ل...
In this paper, the resonance optical absorption method, is used to measure the Cu atoms number density in different power levels of power supply. Atoms are sputtered from a Cu target during plasma magnetron sputtering deposition. For the light source, a commercial Cu hollow cathode lamp is used. For measurement of gas temperature, a small percentage of N2 is added to the gas mixture and the gas...
نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال
با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید