نتایج جستجو برای: ضخامت اپتیکی
تعداد نتایج: 13482 فیلتر نتایج به سال:
در این پژوهش لایه های نازک znnialo به روش سل-ژل بر روی زیر لا یه های شیشه ای قرار داده می شوند. سپس نمونه هایی با ضخامت های 40 ، 90 ، 320 ، 410 و 500 نانو متر ساخته شده و اثر ضخامت لایه ها بر روی خواص ساختاری ، اپتیکی و الکتریکی آنها مورد مطالعه قرار می گیرد. با بررسی الگوهای پراش نمونه های مختلف به این نتیجه رسیدیم که لایه های ساخته شده دارای ساختار zno یعنی هگزاگونال هستند (یعنی با جایگزین شد...
دهه های متمادی است که تحقیق و بررسی در خواص و کاربرد های ساختار های اکسید روی zno انجام می شود و تحقیق بر روی عوامل موثر بر تغییر خواص آنها برای کاربرد های آن در حسگر ها هنوز هم ادامه دارد. با پیشرفت علم نانو تکنولوژی، رشد نانو ساختار های zno با روش های مختلف و بررسی خواص آنها نیز در دستور کار محققان قرار گرفته است. در این پایان نامه، نانو لایه های zno جانشانی شده با fe و ni با استفاده از روش س...
در این پژوهش لایه های نازک znnialo به روش سل-ژل بر روی زیر لا یه های شیشه ای قرار داده می شوند. سپس نمونه هایی با ضخامت های 40 ، 90 ، 320 ، 410 و 500 نانو متر ساخته شده و اثر ضخامت لایه ها بر روی خواص ساختاری ، اپتیکی و الکتریکی آنها مورد مطالعه قرار می گیرد. با بررسی الگوهای پراش نمونه های مختلف به این نتیجه رسیدیم که لایه های ساخته شده دارای ساختار zno یعنی هگزاگونال هستند (یعنی با جایگزین شد...
ضخامت لایه های نازک از جمله مهمترین پارامترهای مرتبط با لایه های نازک است ،چراکه تقریباً تمامی خواص آنها را می توان با دانستن ضخامت ، بدست آورد.روشهای اپتیکی و غیر اپتیکی بسیاری برای اندازه گیری ضخامت ابداع شده و مورد استفاده قرار می گیرند.در این تحقیق روش اندازه گیری ضخامت با استفاده از پراش فرنل در بازتاب مورد بررسی قرار گرفته است.نشان داده شده که استفاده از رفتار نمایانی فریزهای حاصل از پراش ...
در این پایان نامه لایه های ستونی و مورب سولفید روی با روش تبخیر حرارتی در خلاء تهیه گردید وخواص ساختاری و اپتیکی آن به وسیله آنالیزهای fesem و afm و پراش پرتو ایکس و طیف سنجی مورد بررسی قرار گرفت. ثابت شبکه و ساختار بلوری از آنالیز پراش پرتو ایکس و زاویه شیب ستونها نسبت به خط عمود بر زیرلایه و ضخامت لایه ها از آنالیز fesem بررسی شدند. زبری سنجی و ریخت شناسی و تخلخل لایه ها نیز به وسیله آنالیز a...
در این رساله نخست تاریخچه تهیه لایه نازک ، چگونگی تهیه و روشهای مختلف همچنین شرایط لایه گذاری ذکر گردیده سپس چگونگی آماده سازی زیر لایه و شرایط لازم برای لایه نشانی آمده است . در ادامه راههای مختلف اندازه گیری ضخامت و همچنین دقت روشهای مختلف اندازه گیری بیان شده است . در قسمت کارهای عملی و تحقیقات انجام شده سیستمهای لایه گذاری مورد استفاده به همراه شمای اپتیکی دستگاه نشان داده شده است . در این ...
در مطالعه حاضر، اثر انتقال حرارت تشعشعی بر روی مشخصات جریان و انتقال حرارت جابجایی ترکیبی در یک حفره با درب مرزی متحرک در دو هندسه متفاوت مربعی و ذوزنقه ای به صورت عددی مطالعه شده است. از تقریب بوزینسک برای مدل کردن معادلات حاکم استفاده شده است. میدان های سرعت و فشار با استفاده از الگوریتم سیمپل کوپل شده اند. معادلات حاکم با استفاده از تکنیک حجم کنترل و معادله انتقال تشعشع به وسیله روش راستاهای...
هدف در این پایان نامه بررسی خواص الکتریکی و اپتیکی نانو ساختار پیوند ناهمگن میان دو نیمه رسانای آلی و معدنی ، برموایندیوم فتالوسیانین و دی اکسید تیتانیوم بوده است. جهت مطالعه ویژگی های الکتریکی قطعاتی ساندویچی از هر کدام از این مواد و پیوند میان آنها با استفاده از الکترود های آلومینیومی و از طریق لایه نشانی تبخیر حرارتی توسط تفنگ الکترونی ، ساخته شد. برای مطالعات اپتیکی تعدادی فیلم نازک از موا...
بررسی روش های پایشگری ضخامت لایه های نانومتری اپتیکی و بهینه سازی پایشگری در دستگاه لایه نشانی موجود
درفصل اول مختصری از تاریخچه و کاربرد لایه های نازک آمده است و به هدف تحقیق و اهمیت آن اشاره شده است. فصل دوم نگاهی به روش های فیزیکی لایه نشانی لایه های نازک دارد. سپس به روش های اندازه گیری ضخامت لایه های نازک توجه کردیم. این اندازه گیری ها به دو روش اپتیکی و غیر اپتیکی امکان پذیر است. از روش های نوری دقیق متداول برای اندازه گیری ضخامت لایه های نازک، روش اپتیکی با استفاده از الگوهای تداخلی است...
در این تحقیق ،لایه های نازک آلومینیوم اکسی نیترید بر روی زیر لایه هایی از جنس bk7 به روش کندوپاش مغناطیسی جریان متناوب انباشته شده اند. هدف از این مطالعات بررسی اثر نسبت گاز نیتروژن ، به عنوان گاز واکنشی و تاثیر دمای زیرآیند بر خواص اپتیکی، سختی، مرفولوژی سطح, آستانه تخریب لایه و پوشش های سطحی alon می باشد. نمونه های مهیا شده، بوسیله سیستم های میکروسکوپ الکترونی روبشی، edx، طیف سنج اپتیکی، سختی...
نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال
با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید