نتایج جستجو برای: تحلیل خطا و قابلیت اطمینان
تعداد نتایج: 763418 فیلتر نتایج به سال:
تاسياقلما فلتخم ىلع ءوضلا ضعب ءاقلإ تم ةعجارلما هذه يف دضتسلماب دضلا تلاعافت ىلع دمتعت يتلا ةموسولما ةيعانلما ةيعانلما و ،ةيقلأتلا ةيعانلما تاسايقلما لمشت يتلاو Ag-Ab هذه فيرعت تم .)EIA, ELISA( ةييمزنلإا ةيعانلما و ،ةيعاعشلا و تلاعافتلا أدبلم رصتخم فصو عم لًاوأ ةثلاثلا تاسياقلما اهروطت حيضوتل يخيراتلا جردتلا بسح تشقون مث ،تاقيبطتلا امك .لماك لكشب ةيلآ ةينقت ىلإ ةياهنلا يف داق يذلا يجيردتلا ةخطلل...
مدیریت ریسک و ارتقای قابلیت اطمینان فرایندها، از جمله موارد مهمی هستند که در ادبیات مدیریت یکی از ،(fmea) تولید و عملیات اهمیت روزافزونی پیدا کرده اند. تجزیه و تحلیل شکست و آثار آن توانمندترین روش ها در این حوزه به شمار می آید. قابلیت اجرایی بالا و تحلیل پذیری مناسب، آن را در رده مهم ترین تکنیک های تحلیل مخاطره و تقویت ایمنی سیستم ها قرار داده است. از سوی دیگر، گستره وسیع کاربری این روش در ...
Address: Department of Gynecology and Obstetrics, Montasariya Infertility Center, Mashhad University of Medical Sciences, Mashhad, Iran Tel: +98 511 8534021 Email: [email protected] همدقم : ناـمز رد نز بارطـضا حطـس لـثم يرـيغتم لـماوع هب هتسباو دناوت يم يروراب كمك نامرد تيقفوم دشاب نامرد . راب نانز بارطضا و يگدرسفا ريثات يبايزرا يارب هعلاطم نيا يروراـب كـمك ناـمرد دمايپ رب رو تسا هدش يحارط ...
برای بالا بردن اعتمادپذیری و تحملپذیری خطا در شبکه حسگر بیسیم، به کارگیری گرههای یدک، راهکار سودمندی میباشد. در این مقاله به بررسی اثر افزودن گرههای یدک تکنوعی و چندنوعی، بر روی قابلیت تحملپذیری خطا در چگالیهای پایین پرداخته شده است. برای این منظور برای چگالیهای یک، دو و سه از نودها، یدکهای تکنوعی و چندنوعی در نظر گرفته شده و گراف شبکه برای آنها رسم شده است. سپس با استفاده از...
با پیچیده شدن مدارهای دیجیتال و میل به افزایش تراکم آن ها، انواع خطاهای رخدادی در سطح لی اوت مدارها باعث عدم عملکرد صحیح مدارها شده است. عموماً فرض اینکه یک مدار عاری از خطا باشد یک فرض ایده آل و دور از واقعیت است. این مسئله باعث شده است تا روش های زیادی در حوزه ی تشخیص خطا پیشنهاد شود. روش های پیشنهاد شده، برخی در حوزه ی آزمون و آزمون پذیری مدارها ارائه شده اند که با الگوریتم انتشار موضع خطا در...
کاهش ابعاد ترانزیستورها در نسل جدید حافظه های nand flash و رهسپار شدن آن ها به سمت حوزه های طراحی نانومتر منجر به عدم صحت در برنامه ریزی و پاک کردن اطلاعات در این طراحی ها شده است؛ درنتیجه قابلیت اطمینان در ذخیره سازی به عنوان چالشی مهم در ساختار این نوع حافظه ها تبدیل شده است. جهت مقابله با چنین چالشی در کنترلر این نوع از حافظه ها، بلوکی به نام ecc تعبیه شده است که وظیفه ی اصلی آن غلبه بر نرخ ...
پیشرفت روزافزون فناوری دیجیتال، همراه با کوچک شدن ابعاد ترانزیستورها از یک سو سبب افزایش قابلیت¬های متعدد این نوع مدارها شده است و از سوی دیگر آسیب¬پذیری آن¬ها را در برابر سازوکارهای خرابی از جمله اشکال¬های گذرا بیشتر کرده است. به فرض اعمال نویز گذرا در مدارهای منطقی، برآورد احتمال بروز خطای گذرا در خروجی مدار از جمله موارد ضروری در طراحی آن¬ها به ویژه در فناوری¬های جدید مدارهای مجتمع می¬باشد. ...
همدقم : نیئتورپ S100B ورون طابترا لرتنک رد و دوش یم دازآ اه تیسورتسآ زا هک تسا ینیئتورپ ، لگ ی یلا دراد شـقن یسپانیس يریذپ لکش و هظفاح رد لاامتحا و . هـعلاطم ادروخرب یصاخ تیمها زا نورون و تیسورتسآ لولس ود يدرکلمع طابترا تسا ر . ياـه شوـم رد يریگداـی يور رـب پـماکوپیه نورد هـب نیئتورـپ نیا قیرزت رثا رضاح هعلاطم رد تفرگ رارق یسررب دروم ییارحص . شور اه : زا قیقحت نیا رد 40 دش هدافتسا رن ییا...
عامل های سیار، امکان نزدیک کردن کدها به منابع را که در الگوی قدیمی مشتری / خدمتگزار پیش بینی نشده است، امکان پذیر می کنند. انعطاف پذیری بیشتر الگوهای عامل سیار، در مقایسه با الگوی محاسبات مشتری/خدمتگزار، هزینه های اضافی به بار می آورد. پیچیدگی بیشتر، مسائلی همچون قابلیت اطمینان را مطرح می کند. در بین مکانیزم های قابلیت اطمینان ، تحمل پذیری خطا، رویکردی است که از اهمیت قابل توجهی برخوردار است. ر...
نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال
با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید