نتایج جستجو برای: آنالیز xrd
تعداد نتایج: 64811 فیلتر نتایج به سال:
در این پژوهش، ترکیب الکتروسرامیک بیسموت – سدیم - باریم تیتانات (bi0.5na0.5)0.94ba0.06tio3 ((bnbt به روش آلیاژسازی مکانیکی تولید شد و ساختار، ریزساختار، ترکیب شیمیایی و رفتار حرارتی آن به ترتیب به وسیله ی آنالیز پراش اشعه ی ایکس (xrd)، میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem)، آنالیز edx و آنالیز حرارتی dta/tg بررسی شد. به کمک آنالیز xrd مشخص شد که در زمان های نخستین آسیاب کاری، پیک های مربوط به مواد اولی...
در این کار پژوهشی زئولیت zsm-5 بدون استفاده از تمپلیت سنتز می شود و بوسیله xrd , ir , sem مورد شناسایی قرار می گیرد. نانوکیتوسان بصورت امولسیون تحت امواج اولتراسونیک (ultrasonic) بر روی zsm-5 نشانده شده و هیبرید کامپوزیت دوتایی zsm-5 / chitosan برای اولین بار تهیه می شود و با xrd , ir , sem آنالیز می شود و همچنین نانو zno به روش تخریب ژل آکریل آمید آماده شده و هیبرید کامپوزیت سه تایی chitosan /...
The aim of the presented research was to analyze ceramic material based on cordierite as a function activation time and sintering temperature. Three-component oxide mixture prepared (MgO + Al2O3 SiO2 in ratio 2:2:5). To decrease temperature, 10 mass % Bi2O3 added this mixture. mixtures were mechanically activated for 5 240 minutes ball mill. Activated sintered at temperatures 1173-1573K. XRD me...
Synchrotrons can be used to generate X-rays in order to probe materials at the atomic level. One approach is to use X-ray diffraction (XRD) to do this. The data from an XRD experiment consists of a sequence of digital image files which for a single scan could consist of hundreds or even thousands of digital images. Existing analysis software processes these images individually sequentially and ...
Hydration and dehydration reaction processes of many organic and inorganic compounds accompany phase changes, and X-ray diffraction (XRD) is a very powerful technique for studying the reaction processes. Thermal analysis is another important technique often used to obtain information needed for understanding the reaction processes. Commercially available instruments for XRD and thermal analysis...
zns/glass thinlayer in high vacuum condition and $40$ degree deposition angle has been produced by resistance evaporated method with $28$ nm thickness. cabin deposition temperature zns layer was about $50c$ and substrates were kept at room temperature. the atomic force microscopy (afm) and xrd analyses are perfectly accomplished for this layer.
نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال
با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید