بیشتر تغییرات زمین‌شناسی یک پاسخ لرزه‌ای دارند اما گه‌گاه در گستره‌های طیفی خاصی بیان می‌شوند که در داده‌های با باند وسیع پنهان شده‌اند. تجزیه طیفی زمان- بسامد یکی از روش‌هایی است که به‌کار می‌آید تا به تفسیر چنین مواردی کمک کند. روش‌های زمان- بسامد متعدد هستند و از میان آنها می‌توان به روش‌های تبدیل فوریه زمان-کوتاه، تبدیل موجک پیوسته، توزیع ویگنر- ویل، تبدیل S و روش تجزیه با تعقیب تطابق اشاره...

در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ito) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (xrd) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (xrr) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...

میکرومورفولوژی خاک بهعنوان شاخهای از علم خاکشناسی، مطالعه نمونههای دستنخورده خاک با روشهایمیکروسکوپی هست و استفاده از تحلیل تصاویر میتواند بهسرعت، دقت و قابلیت مطالعات میکروموفولوژی خاکبیافزاید. منافذ خاک به واسطه تاثیرشان در بسیاری از خواص و فرآیندهای خاک و همچنین تعامل خاک، آب و گیاهدارای اهمیت ویژهای هستند. در این تحقیق منافذ و خلل و فرج خاک در اراضی شور -سدیمی غرب دریاچه ارومیه در یکمقطع طو...

لایه های نازک اکسید وانادیم(VOx) در سیستم کند و پاش مغناطیسی جریان مستقیم تهیه شدند. به منظور دستیابی به فازهایمختلف از اکسید وانادیم، نمونه ها تحت دماها و اتمسفرهای مختلف آنیل شدند. در ابتدالایه های نازک اکسید وانادیم(VOx)بدست آمده در دو دمای مختلف 450 و 500oC آنیل شدند. هر دو لایه شامل ترکیبی از فازهای VO2(M) و V2O5 بودند. فاز غالب در دمای 450oC فاز VO2(M) بود که در دمای 500oC به فاز V2O5 ...

در این تحقیق لایه نازک نانو ساختار اکسید روی دارای آلایش آلومینیوم و تیتانیم (atzo) به روش سل ژل تهیه گردید. آنالیز فازی توسط تکنیک پراش پرتو ایکس (xrd)، مشاهدات ریز ساختاری و آنالیز عنصری توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fe-sem) و ابزار طیف سنج تفکیک انرژی (edx) انجام شده و زبری سطح با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (afm) مورد بررسی قرار گرفت. نتایج xrd نشان داد که حضور اتمسفر احیای...

فیلم­های نازک نانوذرات ZnS خالص وZnS  آلائیده به Cu (ZnS:Cu) با استفاده از روش جذب و واکنش متوالی لایه­ی یونی (SILAR) تهیه شد. فیلم­های نازک به دست آمده با استفاده از پراش­سنج اشعه ایکس (XRD)، میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) و طیف جذبی مورد بررسی قرار گرفتند. تخریب فوتوکاتالیستی مولکول­های رنگی متیلن بلو (MB) با کنترل میزان غلظت محلول MB با استفاده از اسپکتروفتومتر جذب UV-vis ارزیابی شد. تغییرات...

لایه نازک با ترکیب شیمیایی Ti45Cu35Zr15Sn5 بوسیله روش کندوپاش مغناطیسی جریان مستقیم در اتمسفر آرگون و در دمای محیط تهیه گردید. بررسی ریزساختار توسط پراش اشعه ایکس و میکروسکوپ الکترونی عبوری حاکی از وجود ساختار آمورف در لایه های نازک پس از کندوپاش می باشد. در این مقاله رفتار و سینتیک بلوری شدن لایه نازک شیشه ای با استفاده از آنالیز گرماسنجی روبشی تفاضلی بصورت همدما و غیرهمدما مورد بررسی قرار گرف...

در این پایان نامه لایه های نازک تلورید کادمیوم تهیه گردیده و خواص ساختاری آن مورد مطالعه قرار گرفت. تاثیر تغییر در شرایط رشد همچون دمای زیر لایه و ضخامت لایه و همچنین استفاده از روش لایه نشانی خراشان(glad) و تاثیر چگونگی هدایت شار بخار بر استوکیومتری و خواص ساختاری لایه ها بررسی گردید. انداز? نانو بلورها، نوع ساختار و پارامتر های ساختاری همچون ثابت شبکه، ضریب ساختار (tc)، انحراف معیار استاندارد...

در این تحقیق، لایه های نازک sno2:bi و sno2-fe2o3:bi به روش اسپری پایرولیزیز بر روی بسترهای شیشه ای تهیه شده است. برای تهیه محلول اولیه از کلرید قلع 5 آبه، آب و اتانول (1:1:1) استفاده شد و تاثیر تراکم ناخالصی آهن و تغییرات تراکم بیسموت بر روی خواص ساختاری، الکتریکی، ترموالکتریکی، اپتیکی و فوتورسانایی این لایه ها بررسی شد. سیستم لایه نازک sno2:bi از ترکیب کلرید قلع (1/0 مول) و درصدهای مختلف ناخال...

در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ITO) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت‌های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (XRD) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (XRR) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...