در این مقاله، سیستم چند لایه ‌ای  نانوساختار رسانای شفاف(SAM)SnO2/Ag/MoO3  طراحی و شبیه‌ سازی شده و ضخامت بهینه هر یک از لایه ‌ها به گونه‌ ای محاسبه شد که بطور همزمان تراگسیل اپتیکی بالا و مقاومت الکتریکی پایین داشته باشیم. پوشش ‌های نانوساختار SAM با استفاده از روش لایه‌ نشانی تبخیر حرارتی بر روی بستره‌ های شیشه‌ ای انباشت شدند و سپس در هوا در دمای 150 درجه سلسیوس به مدت ...

در این تحقیق نانوساختارهای اکسید تیتانیوم با مورفولوژی‌های نانوصفحه و نانولوله با دو روش متفاوت تبخیر شیمیایی و آندایز تشکیل شده‌اند و ریخت شناسی و خواص فیزیکی این دو ساختار از جمله ساختار و پاسخ نوری به‌ترتیب با دستگاه‌های میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (FESEM)، دستگاه پراش اشعه ایکس (XRD) و دستگاه بازتاب پخشی (DRS) بررسی شده‌است. مشاهده شد که دو مورفولوژی متفاوت از اکسیدتیتانیوم خواص سا...

در این مقاله ویژگی های الکترونی، اپتیکی و فاز توپولوژی نانولایه Li2AgSn مورد بررسی قرار گرفته است. محاسبات براساس نظریه تابعی چگالی، بصورت پتانسیل کامل به روش امواج تخت بهبودیافته خطی به اضافه اوربیتال های موضعی و تقریب شیب تعمیم یافته انجام شده است. چگالی حالت های الکترونی این نانولایه با استفاده از این تقریب محاسبه شده است. ضریب خطی گرمای ویژه نانولایه Li2AgSn مورد بررسی قرار گرفته است. با اس...

در این رساله، فیلم های نازک نانو ساختاری برپایه اکسیدهای مس و منگنز با روش غوطه وری و چرخشی سل- ژل تهیه شدند. فیلم های نازک نانو ساختاری بر پایه اکسیدهای منگنز بسترهای شیشه و اکسید قلع- ایندیم و فیلم های نازک بر پایه اکسید مس فقط بر بستر شیشه نهشته شدند. تأثیر دمای بازپخت و غلظت ماده آلایش دهنده و مخلوط شده برای هردو گروه فیلم های نازک اکسید مس و منگنز بررسی شد. اطلاعات فیزیکی شامل خواص ساختاری...

پنتا اکسید وانادیم یک نیمرسانای نوع n است که تراز 3d آن در حال پر شدن است. این اکسید فلزی به شکل فیلم نازک کاربردهای وسیعی در پنجره های هوشمند و کلیدهای اپتیکی دارد. بنابراین، تعیین پارامترهای اپتیکی فیلم نازک v2o5 (شامل ضریب شکست و خاموشی) برای طراحی ابزارهای اپتوالکترونیک و پوششهای اپتیکی به صورت فیلم های اپتیکی نازک چند لایه و فیلترها ضروری است.تا کنون روشها و مدلهای مختلف فیزیکی برای محاسبه...

در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ito) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (xrd) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (xrr) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...

در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ITO) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت‌های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (XRD) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (XRR) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...

لایه های نازک به طور گسترده ای در اپتیک، فوتونیک و تکنولوژی لیزر مورد استفاده قرار گرفته اند و کاربردهای فراوانی در ابزارهای اپتیکی مانند پوشش های ضدبازتاب، آینه های دی الکتریک، فیلترهای تداخلی، سلول های خورشیدی، موجبرها و ... دارند. با کشف خواص اپتیک غیرخطی و مشاهده آن در بسیاری از مواد آلی وغیرآلی، این شاخه از فیزیک وارد حیطه لایه‎‎ های نازک شد. امروزه مواد اپتیکی غیرخطی نقش مهمی در تکنولوژی...

در این پایان نامه ابتدا لایه های نازک اکسید سریم (ceo2) خالص و آلایش یافته با کلسیم به روش سل- ژل چرخشی و غوطه وری تهیه شدند. سپس تأثیر روش انباشت، فرآیند خشک سازی، نوع زیرلایه، عملیات بازپخت و آلایش کلسیم بر روی خواص ساختاری و اپتیکی نمونه ها مورد بررسی قرار گرفت.برای مشخصه یابی ساختاری نمونه ها از اندازه گیری طیف پراش پرتو ایکس (xrd) و تصاویر fesem از سطح نمونه ها و برای بررسی خواص اپتیکی از ...

دراین پژوهش رفتار اپتیکی خطی وغیر خطی ترکیب نانو ذرات فلزی واکسید شیشه ها و اثر تغییر طول موج وکسر حجمی ذرات بر ضریب بازتاب و تابع دی الکتریک خطی وغیر خطی این ترکیب )نانو ذرات فلزی و اکسید شیشه ها( بررسی می شود. به این ترتیب که مدل ماکسول گارنت برای - بررسی رفتار اپتیکی خطی محیط های مرکب و مدل تی ماتریس برای توصیف رفتار غیر خطی چنین محیطی ارایه می گردد فیزیک افزایش خواص غیر خطی در اکسید شیش...