نتایج جستجو برای: استاندارد ieee 1500
تعداد نتایج: 80581 فیلتر نتایج به سال:
به دنبال توسعه شبکه های بی سیم محلی، نیاز به شبکه های بی سیم شهری روز به روز افزون تر گردید. تا آنجا که برای اولین بار استاندارد شبکه بی سیم شهری در سال 2001 تدوین گشت و با نام تجاری wimax و با استفاده از استاندارد ieee 802.16-2001 وارد بازار گردید. شبکه بی سیم شهری دارای دو قسمت اصلی بی سیم و با سیم است. قسمت بی سیم این شبکه از استاندارد ieee 802.16 تبعیت می کند. از آنجا که چالش اصلی در شبکه ب...
3D-MAPS is a test vehicle for evaluating the architectural implications of microprocessors designed using 3D integration technology. The 3D-MAPS processor is a five-layer stack consisting of logic, cache, and DRAM layers. Testing such a 3D design presents several unique challenges. Our test architecture is a custom design, borrowing from the IEEE 1149.1 and 1500 standards. The design goals were...
با توسعه استاندارد IEEE 802.11 که منجر به تبیین استاندارد IEEE 802.11e گردید؛ قابلیت تأمین کیفیت خدمات در شبکه‌های بی‌سیم میسر شد؛ اما این استاندارد دارای اشکالات عمده‌ای از قبیل عدم توجه به کیفیت تجربه کاربر (QoE) در ترافیک بلادرنگ است که باعث شده تا از منابع رادیویی موجود به‌صورت بهینه استفاده نگردد. یکسان بودن پنجره رقابت و حداکثر فرصت ارسال فریم برای تمام کاربران یک کلاس سرویس به معنی عدم ت...
با توسعه استاندارد ieee 802.11 که منجر به تبیین استاندارد ieee 802.11e گردید؛ قابلیت تأمین کیفیت خدمات در شبکه های بی سیم میسر شد؛ اما این استاندارد دارای اشکالات عمده ای از قبیل عدم توجه به کیفیت تجربه کاربر (qoe) در ترافیک بلادرنگ است که باعث شده تا از منابع رادیویی موجود به صورت بهینه استفاده نگردد. یکسان بودن پنجره رقابت و حداکثر فرصت ارسال فریم برای تمام کاربران یک کلاس سرویس به معنی عدم ت...
With the progress of deep submicron technology and increasing design complexity, hundreds of memory cores with different size and configuration are embedded in system-on-chips (SoCs). These memory cores occupy a noticeable silicon area and need an efficient and low-cost test methodology. Built-in Self-test (BIST) is a practical solution provides a certain degree of reliability and flexibility. ...
استفاده وسیع از شبکه های باند وسیع، محققان و تولیدکنندگان را به سمت بهسازی و توسعه این گونه شبکه ها تشویق نموده است. این امر بدون مطالعه و دقت در طراحی و نوع پیاده سازی این سیستمها امکان پذیر نیست. معرفی تکنولوژی وایمکس به دنیای ارتباطات نیز، تلاش پژوهشگران به سمت بهبود این شبکه های باند وسیع و پر طرفدار را برانگیخته است. لذا این مقاله با شبیه سازی لایه فیزیکی یک سیستم وایمکس، بر مبنای استاندار...
The well-known approaching test cost crisis, where semiconductor test costs begin to approach or exceed manufacturing costs has led test engineers to apply new solutions to the problem of testing System-On-Chip (SoC) designs containing multiple IP (Intellectual Property) cores. While it is not yet possible to apply generic test architectures to an IP core within a SoC, the emergence of a number...
Verifying and validating complex IC designs on an FPGA prototype prior to device fabrication can provide many advantages. However, there is a lack of proper Electronic Design Automation (EDA) tool support to integrate and verify scan-based Design-for-Testability (DFT) circuitry on an FPGA. Integrating DFT technology on an FPGA prior to IC fabrication is complicated by process incompatibilities ...
استفاده وسیع از شبکه های باند وسیع، محققان و تولیدکنندگان را به سمت بهسازی و توسعه این گونه شبکه ها تشویق نموده است. این امر بدون مطالعه و دقت در طراحی و نوع پیاده سازی این سیستمها امکان پذیر نیست. معرفی تکنولوژی وایمکس به دنیای ارتباطات نیز، تلاش پژوهشگران به سمت بهبود این شبکه های باند وسیع و پر طرفدار را برانگیخته است. لذا این مقاله با شبیه سازی لایه فیزیکی یک سیستم وایمکس، بر مبنای استاندار...
A novel oscillation ring (OR) test scheme and architecture for testing interconnects in SOC is proposed and demonstrated. In addition to stuck-at and open faults, this scheme can also detect delay faults and crosstalk glitches, which are otherwise very difficult to be tested under the traditional test schemes. IEEE Std. 1500 wrapper cells are modified to accommodate the test scheme. An efficien...
نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال
با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید