در این مطالعه لایه­های نازک الکتروکرومیک اکسید تنگستن و اکسید وانادیوم به روش فیزیکی تبخیر حرارتی در خلأ در ضخامت 200 نانومتر بر روی زیر لایه هادی شفاف sno2:f جایگذاری شده و مورد مطالعه اپتیکی در بازه طول موج 400 تا 700 نانومتر و مطالعه الکتریکی در بازه پتانسیل 5/1- تا 5/1+ ولت قرار گرفته­اند. همچنین این لایه­ها به منظور بررسی میزان تغییر گاف انرژی با دما، در دماهای 120، 300 و 500 درجه سیلسیوس ...

در این پایان نامه برای بررسی خواص ساختاری، الکترونی، اپتیکی و مغناطیسی پروسکایت باریم استانات(basno3) هم در شکل خالص و هم آلایش داده شده با اتم mn، محاسبات اصول اولیه بر اساس نظریه ی تابعی چگالی با دو تقریب gga و mbj روی پتانسیل تبادلی-همبستگی انجام شده است. برای انجام محاسبات از کد محاسباتی wien2k استفاده شده است. آنالیز ساختار نواری و چگالی حالت های کل و جزئی برای باریم استانات نشان می دهد که...

گالیوم آرسناید ترکیبی از عنصرهای گروه های iii-v جدول تناوبی عناصر است. گالیوم آرسناید در ساختاری بلوری مشهور به zinc blende متبلور می شود. این ساختار به ساختار شبکه ی بلوری الماس بسیار شبیه است، اما در الماس فقط یک نوع اتم (کربن) وجود دارد در حالی که در این ماده هر موضع اتمی به تناوب توسط یکی از اتم های آرسنیک یا گالیوم اشغال می شود. از این نیمرسانای استفاده ی گسترده ای در تکنولوژی و ساخت قطعات...

در این تحقیقات لایه نازک های پنتاکسید وانادیوم روی زیرلایه های سودالایم به روش اسپری پایرولیزز با استفاده از محلول اولیه پودر کلرید وانادیوم (?) در40 سی سی آب مقطر دوبار تقطیر تهیه شدند. تاثیر پارامترهای دمای لایه نشانی، نرخ شارش و غلظت محلول اولیه روی خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی به ترتیب توسط پراش اشعه ایکس، طیف سنجی ناحیه مرئی و فرابنفش اسپکتروفوتومتر و روش دو پروب بررسی شدند. نتایج نشان ...

دراین تحقیق، نانوذرات آلومینای خالص (Al2O3) و آلومینای آلائیده شده با ناخالصی آهن (Fe-Al2O3)، با روش شیمیایی سل- ژل با پیش ماده‌های جدید ساخته شدند. خواص بلوری، اپتیکی، مغناطیسی و مورفولوژیکی آلومینا و تاثیر آهن در آن‌ها، با آنالیزهای XRD، FESEM،TEM، UV-DRS، VSM و FTIR مورد بررسی و مطالعه قرار گرفتند. نتایج آنالیز XRD نشان داد که ساختار نانوذرات آلومی...

در این تحقیق تجربی مورفولوژی سطح، خواص ساختاری، اپتیکی، ترمو الکتریکی و الکتریکی و هم چنین خواص فوتورسانش نانو ساختارهای نیمرسانای اکسید مس (cuo) رشد داده شده به روش افشانه تجزیه حرارتی را بر روی زیرلایه شیشه مورد بررسی قرار داده ایم. برای مشخصه یابی نمونه ها از دستگاه های میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem)، پراش پرتو ایکس (xrd)، دستگاه طیف سنج نوری (uv-vis) و اندازه گیری جریان- ولتاژ...

در این پژوهش، لایه های نازک اکسید روی با ضخامت های متفاوت بین 46 تا 317 نانومتر بر روی زیرلایه شیشه به روش اسپری لایه نشانی شده اند. موفولوژی و میزان زبری سطح لایه ها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی ( sem ) و میکروسکوپ نیروی اتمی ( afm ) اندازه گیری شده اند. تصاویر afm و sem لایه ها نشان می دهند که در روند رشد و زبری لایه ها با افزایش ضخامت، دو حالت متفاوت رشد مشاهده می شود. نخست با افزا...