نتایج جستجو برای: ضخامت بذر لایه
تعداد نتایج: 38516 فیلتر نتایج به سال:
پاسخهای اپتیکی و مغناطواپتیکی بلورهای مغناطوفوتونی با لایه نقص مغناطیسی که در بین دو آینه براگ دیلکتریک احاطه شده است، مورد بررسی قرار گرفته است. این ساختارها دارای پتانسیل بالقوهای برای کاربرد در ابزارهای مغناطواپتیکی و اپتیک مدارهای مجتمع میباشند. آینههای براگ، متشکل از ساختارهای چندلایه از مواد SiO2 و Ta2O5 میباشد. با معرفی ماده Ce:YIG به عنوان لایه نقص مغناطیسی، افزایش عبور و زاویه ...
این بررسی به منظور استفاده بهینه از حجم زیاد پسماند الیاف کارخانه چوب و کاغذ مازندران در ساخت تخته خرده چوب انجام گرفت. دو نوع تخته همسان و سه لایه که در نوع لایه ای الیاف پسماند در لایه های سطحی بکار رفته است، ساخته شد. مقدار چسب اوره فرمآلدیید، 10 و 12 درصد و نسبت پسماند الیاف به خرده چوب در چهار سطح، صفر: 100، 85:15، 70:30، 55:45 درصد به عنوان عوامل متغیر و دمای پرس 160 درجه سانتیگراد، زمان ...
در این تحقیق، آزمایشات مختلفی برای اندازه گیری توزیع فشار روی یک بدنه استوانه ای طویل با دماغه اجایو، در جریان مافوق صوت در مجموعه تونل باد سه منظوره دانشگاه امام حسین (ع)، انجام شده است. میدان جریان اطراف این مدل به کمک شیلیرین1 مشاهده و توزیع فشار کل در زوایای حمله مختلف اندازه گیری و مورد بررسی قرار گرفته است. زاویه موج ضربه ای به دست آمده از تصویرهای آشکارسازی با نتایج نظری تطابق نزدیکی را ...
چکیده هدف: اندازهگیری ضخامت لایه فیبرهای عصبی شبکیه (RNFL) در افراد سالم به وسیله دستگاه OCT (Optical Coherence Tomography) و ارزیابی ارتباط ضخامت RNFL با سن، جنس و عیب انکساری. روش پژوهش: در این مطالعه، 81 چشم از 45 فرد سالم ارزیابی شد. افراد مورد مطالعه، تحت معاینات چشمی شامل تعیین حدت بینایی، اندازهگیری فشار داخل چشمی، ارزیابی سگمان قدامی به وسیله اسلیتلمپ و معاینه سر عصب بینایی و RNFL...
در این پژوهش مورفولوژی فیلم اکسید آلیاژ منیزیم که در شرایط ریخته گری تشکیل شده اند، بررسی گردید. فیلم اکسید سطحی در اثر تلاطم سطحی هنگام ریخته گری، بر روی هم تا خورده و با حبس هوا در بین لایه های داخلی خود، موجب تشکیل فیلم های دو لایه در مذاب شده و منشاء تشکیل عیوب ریختگی از جمله مک های گازی و حفرات انقباضی می شوند. بنابراین شناخت ویژگیها و مشخصات فیلم اکسید فلزات در پیش بینی خواص نهایی قطعات ر...
میکروکانتیلورهای پیزو الکتریک چند لایه در واقع تیرهای یک سر گیردار با ابعاد میکرومتری هستند که امروزه به طور وسیعی در صنایع هوا-فضا، نظامی و خودروسازی به عنوان محرک و حسگر در سازه های هوشمند به کار می روند. پارامترهایی نظیر ضخامت زیر لایه، ضخامت پوشش، جنس و ابعاد مواد به کار رفته در ساختمان یک میکروکانتیلور بازده دستگاه را تعیین می کند. بنابراین درک رفتار استاتیکی و دینامیکی میکروکانتیلور به طر...
نانومیله های اکسیدروی به روش رسوب حمام شیمیایی (CBD) روی بستر سیلیکون بذردار به صورت عمودی و یکنواخت رشد داده شدند. از لایه نازک اکسیدروی که به روش کندوپاش بر روی بستر سیلیکونی لایه نشانی شد به عنوان لایه بذر استفاده شد. اثرات دما و زمان رشد بر خواص ساختاری و مورفولوژیکی نانومیله های اکسید روی با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی و پراش اشعه ایکس بررسی شد. مطالعات انجام شده نشان داد که است...
ابتدا لایه های نازک اکسید کادمیوم روی cdzno به ضخامت متوسط 155 نانومتر بر روی زیر لایه های شیشه ای با روش سل-ژل چرخشی رشد داده شدند. سپس لایه های آماده شده در دماهای 500 و 450 درجه سانتیگراد بازپخت شدند. خواص اپتیکی و ساختاری این نمونه ها با استفاده از نتایج حاصل از اندازه گیری های طیف عبور و بازتاب و پراش پرتوایکس و همچنین تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی بررسی شدند. نتایج این مطالعه نشان داد ک...
صفحات کامپوزیت های در حین دریل کاری تحت تمرکز تنش قرار می گیرند و مستعد لایه لایه شدن هستند. در این پژوهش اثر سرعت پیشروی مته و همچنین قطر مته در فرآیند سوراخکاری صفحات کامپوزیتی بصورت تجربی بررسی شده است. برای این هدف دو نوع کامپوزیت مختلف فیبر شیشه و فیبر کربن به ضخامتهای متفاوت در ازمایشگاه ساخته شده و عملیات سوراخکاری بر روی آنها در 54 حالت مختلف صورت گرفته است. سپس از لبه های سوراخ شده عکس...
مس با خلوص 99.97% را در ضخامت های متفاوت بر زیرلایه شیشه، به روش تبخیر در خلاء با آهنگ 2aº/sec رشد داده ایم. طیف ضریب بازتاب (r) نمونه ها را در فرود تقریبا عمود در بازه طول موج 200nm<λ<3000nm با دستگاه طیف سنجی 500 carry به دست آوردیم و با استفاده از آن، بخش حقیقی و موهومی ضریب شکست (n و k) و ضرایب دی الکتریک (ε2وε1) را با روش کرایمرز کرونیگ (k.k.) به دست آوردیم و با نمونه حجمی مقایسه کردیم. نت...
نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال
با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید