نتایج جستجو برای: توموگرافی مقاومت ویژهی الکتریکی
تعداد نتایج: 42544 فیلتر نتایج به سال:
فناوری نانو در سالهای اخیر سبب تحولات وسیعی در دانش بشری شده است و محققین علوم مختلف از آن بهره گرفتهاند. نانو ذرات به دلیل ویژگیهای خاص فیزیکی و شیمیایی در بسیاری از زمینهها برای ساخت مواد جدید با قابلیتهای منحصر به فرد به کار میروند. از این رو استفاده از نانو سیلیس به عنوان یکی از محصولات فناوری نانو که می تواند نقش یک پوزولان مصنوعی بسیار فعال را در بتن ایفا نماید، مورد توجه قرار گرفته...
مقدمه: هدف از مطالعه ی حاضر، بررسی رابطه ی تغییرات مقاومت الکتریکی نقطه ی li4 طب سوزنی با تغییرات شدت درد بیماران پس از عمل جراحی صورت بود. در صورتی که بتوان رابطه ی مقاومت الکتریکی و شدت درد را نشان داد، می توان امیدوار به ساخت تجهیزات بررسی درد کمتر وابسته به بیمار بود و بنابراین می توان درد بیماران را با دقت بیشتری بررسی کرد. روش ها: این مطالعه روی 100 بیمار 65-17 ساله که دچار درد پس از اعما...
در این تحقیق تاثیر هافنیوم بر اکسیداسیون و هدایت الکتریکی سوپر آلیاژ پایه نیکل درC o1000 و 75 ساعت بررسی شده است.اکسیداسیون با بررسی ریز ساختار با میکروسکوپ الکترونی روبشی و اندازه گیری وزن و خواص الکتریکی با اندازه گیری مقاومت ویژه سطحی تحلیل شد. نتایج نشان می دهد نمونه با 0.4 Wt.% هافنیوم کمترین افزایش وزن را دارد. خاصیت عناصر فعال همانند هافنیوم در افزایش چسبندگی و تشکیل لایه آلومینا پیوسته ...
مقدمه: مهمترین ساختار آناتومیک مرتبط به ایمپلنت ناحیه خلفی فک پایین کانال فک پایین می باشد، که تعیین موقعیت دقیق آن، هم از جهت فاصله کانال از کرست الوئل و هم موقعیت باکولینگوالی آن حائز اهمیت است. از جمله تکنیک های رادیوگرافی جهت تصویربرداری از فک به خصوص در مواردی که تعداد محدود دندان قرار است جایگزین شود توموگرافی می باشد. در این مقاله سعی بر آن است که دقت توموگرافی معمولی در تعیین موقعیت کان...
مقدمه: برای تهیه تصاویر تشخیصی برای درمان های دندان پزشکی از جمله ایمپلنت، تکنیک های رادیوگرافی مختلفی به کار برده می شوند. با استفاده از تصاویر مقطعی (cross sectional) مانند توموگرافی توانایی مشاهده استخوان موجود افزایش می یابد. این تصاویر اغلب با دو روش خطی و اسپیرال تهیه می گردند. هدف از انجام این پژوهش، مقایسه دقت اندازه گیری های رادیوگرافی تصاویر حاصل از دو روش خطی و اسپیرال بود. مواد و رو...
امروزه نیاز گسترده ای در صنعت برای تحلیل مستقیم مشخصات داخلی طرح های فرایندی به منظور بهبود طراحی و عملکرد تجهیزات وجود دارد. ابزار اندازه گیری برای چنین کاربردهایی باید از سنسورهای قوی استفاده کنند که اگر نیاز باشد، در سیال های تهاجمی، حرکت سریع و چند فازی مخلوط، با دقت و سرعت عمل کنند. پردازش یا توموگرافی صنعتی با استفاده از اطلاعات کمی دقیق از موقعیت های دور از دسترس سروکار دارد. نیاز برای ت...
در پژوهش حاضر، چسب کامپوزیتی رسانای الکتریسیته با استفاده از رزین اپوکسی به عنوان ماتریس پلیمری و ذرات پودر مس پوشش یافته با فلز نقره بهعنوان پرکننده تهیه شد. سپس، روی چسب کامپوزیتی تهیه شده آزمونهای مختلف نظیر میکروسکوپی الکترونی پویشی (SEM)، طیفسنجی پلاسمای جفتشده القایی (ICP)، تجزیه گرماوزنسنجی و اندازهگیری مقدار مقاومت ویژه الکتریکی و مقدار استحکام برشی انجام شد. تصاویر SEM از سطح شکس...
کاربرد روش مگنتوتلوریک در زمینه اکتشافات هیدروکربوری در مناطقی که روش لرزهنگاری انعکاسی با مشکلاتی مواجه شده، قابل توجه است. در همین راستا یک مطالعه مگنتوتلوریک با حجم وسیع در میدان نفتی سهقنات متشکل از یک نفتگیر تاقدیسی، و در حوضه رسوبی زاگرس واقع در جنوب غربی ایران برای به نقشه در آوردن ساختار ژئوالکتریکی منطقه انجام شد. سازند کربناته آسماری، سنگ مخزن و سازند تبخیری گچساران، سنگ پوش را تشک...
دقت توموگرافی خطی در ارزیابی پهنای مندیبل در محل بوردر فوقانی کانال مندیبولار دکتر سیده طاهره محتوی پور #1 دکتر فاطمه شاهسواری 2 دکتر حوریه باشیزاده فخار 3 دکتر فرید ابوالحسنی4 1- استادیار گروه آموزشی رادیولوژی فک و صورت، دانشکده دندانپزشکی دانشگاه علوم پزشکی گیلان 2- استادیار گروه آموزشی پاتولوژی دهان، فک و صورت، واحد دندانپزشکی دانشگاه آزاد اسلامی 3- استادیار گروه آموزشی رادیول...
بررسی دقت و اعتبار روش توموگرافی اسپیرال در ارزیابی محل قرارگیری ایمپلنت در فک پایین : مطالعه آزمایشگاهی دکترشهریار شهاب1- دکترشکرانه قاضیمقدم2- دکتر فرید ابوالحسنی3- دکتر محمدجواد خرازیفرد4- دکترشهرام نامجوینیک51- استادیار گروه آموزشی رادیولوژی دهان و فک و صورت دانشکده دندانپزشکی دانشگاه شاهد2- دندانپزشک3- دانشیار گروه آموزشی جنین شناسی دانشکده پزشکی دانشگاه علوم پزشکی تهران4- مشاور آمار و ...
نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال
با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید