نتایج جستجو برای: طیف گسیل پرتو ایکس
تعداد نتایج: 30642 فیلتر نتایج به سال:
در این پژوهش، نانوذرات zro2 (زیرکونیا) به روش سل ژل اصلاح شده در دماهای 600، 800، 1000 و 1200 درجهی سانتی گراد سنتز شدند. اکسی نیترات زیرکونیوم به عنوان تامین کننده زیرکونیوم، ژلاتین به منظور عامل پلیمریزاسیون و پایدار کننده و نیز آب مقطر به عنوان حلال مورد استفاده قرار گرفتند. ساختار بلوری پودرها به روش پراش پرتو ایکس (xrd) مورد بررسی قرار گرفت و اندازهی میانگین بلورک ها با استفاده از فرمول ...
در این پژوهش، اثر آسیاکاری بر ساختار، اندازهی ذرات و ریختشناسی خاکرس مونتموریلونیت مورد بررسی قرار گرفت. بدین منظور نخست مونتموریلونیت خریداری شده با روشهای پراش پرتو ایکس، طیف سنجی فوریه فروسرخ و میکروسکوپ الکترونی روبشی سرشتیابی، و سپس با استفاده از یک آسیای ماهوارهای پرانرژی، در زمانهای 1 تا 60 ساعت آسیاکاری شد. پس از آن ساختار، اندازهی ذرات و ریختشناسی همهی نمونهها به روشهای پ...
چکیده ندارد.
- نانو ذرات اکسیدروی خالص و آلائیده با منگنز به روش مایسل معکوس تولید شدهاند. اندازه، ویژگیهای ساختاری و نوری این نانو ذرات توسط دستگاه پراش پرتو ایکس (xrd)[1]، میکروسکوپ الکترونی عبوری(tem)[2] و طیف سنج uv-vis[3] مورد بررسی قرار گرفتند. الگوی پراش پرتو x تشکیل فاز ورتزایت نانو ذرات را تایید میکند. ویژگیهای نوری نانو ذرات مانند ضریب میرائی، گاف انرژی، انرژی اورباخ، طول موج آستانهگذار، ع...
تحلیل مواد با استفاده از روش های تحلیل با باریکه ی یونی دارای مزیت های منحصربفرد سریع، غیرمخرب، بس عنصری و حساس است. روش های تحلیل با باریکه ی یونی عبارت اند از: روش گسیل پرتو ایکس ذره- القایی (pixe)، گسیل پرتو گاما ذره-القایی (pige)، تحلیل با واکنش های هسته ای (nra)، طیف سنجی پس پراکندگی رادرفورد (rbs) و آشکارسازی ذرات پس زده از برخورد کشسان (erd). از میان این تکنیک ها روش pixe برای تحلیل عنصر...
در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ito) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (xrd) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (xrr) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...
تشخیص و پیگیری درمان در آنکولوژی به صورت سنتی بر پایه استفاده از تصاویر با رزولوشن بالای ct انجام می گیرد. در سالهای اخیر استفاده از سیستمهای pet جهت تصویربرداری عملکردی و با استفاده از رادیوداروهای مخصوص به عنوان تکمیل کننده اطلاعات آنامیکی بدست آمده از ct مرسوم گردیده است. جهت حل مشکلات ناشی از عدم یکسان بودن شرایط تصویربرداری در سیستمهای pet و ct سیستمهای ترکیبی pet/ct طراحی گردیده و از سال ...
دراین تحقیق بااستفاده از لیزر nd:yag پالسی، کامپوزیت سازی سطحی به روش درجا از طریق پیش نشست مخلوط پودری گرافیت-نیکل روی سطح آلیاژti-6al-4v انجام شد. ساختار لایه ها و فازهای حاصل از عملیات کامپوزیت سازی سطحی توسط میکروسکوپ نوری (om)، میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی (fesem) مجهز به طیف سنجی انرژی پرتو ایکس (eds) و پراش سنجی پرتو ایکس(xrd) بررسی شدند. اثر پارامترهای لیزر روی ابعاد حوضچه مذاب د...
در این تحقیق ما به مطالعه مورفولوژی، خواص ساختاری، اپتیکی، الکتریکی و ترمو-الکتریکی لایه های اکسید تنگستن (wo3) خالص و آلایش یافته بر روی زیرلایه شیشه که به روش اسپری پایرولیزیز رشد داده شده اند، پرداخته ایم. برای مشخصه یابی نمونه ها از دستگاه های میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem)، پراش پرتو ایکس (xrd)، طیف سنجی uv.vis.nir، مشخصه جریان – ولتاژ (i-v) و آزمایش اثر سیبک استفاده کرده ایم...
در این مقاله، نانوسیمهای اکسید روی درون قالب نانوحفرهای آلومینای آندایز شده به روش آندایز دو مرحلهای سنتز شدند. ویژگیهای فیزیکی نانوسیمهای اکسید روی با استفاده از تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی، طیف پراکندگی پرتو ایکس و طیفسنجی پراش انرژی پرتو ایکس و همچنین تغییرات مقاومت الکتریکی با دما توسط سامانه طراحی شده، مورد بررسی قرار گرفت. نتایج نشان میدهد که نانوسیمهای اکسید روی دارای قطر 66 ...
نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال
با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید