نتایج جستجو برای: جوشکاری لایه نشانی

تعداد نتایج: 23471  

ژورنال: :مهندسی عمران و محیط زیست 2014
فرزاد شهابیان مسلم مصباح

تنش­های پسماند ناشی از جوشکاری در بعضی از موارد مقادیر بسیار بالایی دارند و علاوه بر کاهش مقاومت قطعات جوش داده شده، می توانند باعث ایجاد ترک در جوش شوند. برای محاسبة  این تنش ها لازم است که ابتدا یک تحلیل حرارتی برای بدست آوردن گرادیان حرارتی و سپس یک تحلیل مکانیکی از وضعیت حرارتی موجود به عنوان بارگذاری انجام شود. در این مقاله با استفاده از نرم افزار اجزای محدود ansys و انجام تحلیل حرارتی و م...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه تربیت مدرس - دانشکده علوم پایه 1393

شبیه¬سازی نانوساختارها به عنوان یک الگوی ساده و کم هزینه برای درک فیزیک حاکم بر نانوساختارها کمک شایانی داشته است. در حقیقت با استفاده از شبیه سازی می¬توان علاوه بر ریخت¬شناسی، ویژگی ها و خواص فیزیکی و شیمیایی مواد نانویی را پیش بینی کرد. در این تحقیق، نانوساختارهای ستونی و مخروط مارپیچی نقره با استفاده از نرم افزار nascam به صورت سه بعدی و با شیوه مونت کارلو شبیه سازی شده اند. الگوریتم استفاده...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی اصفهان - دانشکده فیزیک 1394

در این پایان نامه ویژگی های ساختاری، الکتریکی و مغناطیسی نمونه های کپه ای و لایه نازک منگنایتهای la0.85sr0.15mno3 و la0.85ca0.15mno3مورد بررسی قرار گرفته است. ویژگی های مغناطیسی نمونه کپه ای lsmo توسط پذیرفتاری مغناطیسی متناوب مورد بررسی قرار گرفت.لایه نشانی منگنایتهای la0.85sr0.15mno3 و la0.85ca0.15mno3 بر روی زیرلایه (lao) laalo3 با استفاده از روش لیزر پالسی (pld) صورت گرفت. ویژگی های الکتریک...

در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ITO) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت‌های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (XRD) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (XRR) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...

ژورنال: :فرآیندهای نوین در مهندسی مواد 0
حمیدرضا فرنوش هیئت علمی تمام وقت گروه مهندسی متالورژی

در این پژوهش، پوشش های کامپوزیتی از نانوذرات ha/tio2 با ترکیب 0، 10 و 20 درصد وزنی tio2 به روش لایه نشانی الکتروفورتیک در ولتاژ 20 ولت و زمان 3 دقیقه ایجاد شدند. برای مطالعه رفتار الکتروشیمیایی پوشش ها در محلول شبیه سازی شده بدن (sbf) در دمای oc 37، آزمون خوردگی به روش پلاریزاسیون پتانسیودینامیک انجام شد. به منظور بررسی تشکیل آپاتیت بر سطح پوشش ها و تاثیر حضور اکسید تیتانیم، پوشش ها از آزمون طی...

ژورنال: :پژوهش فیزیک ایران 0
عسگر حاجی بدلی a hajibadali faculty of electrical and computer engineering, hakim sabzevari university, sabzevar, iranدانشکده مهندسی برق و کامپیوتر، دانشگاه حکیم سبزواری، سبزوار مجید بقائی نژاد m baghaei nejhad faculty of electrical and computer engineering, hakim sabzevari university, sabzevar, iranدانشکده مهندسی برق و کامپیوتر، دانشگاه حکیم سبزواری، سبزوار غلامعلی فرزی gh farzi department of material and polymer engineering, faculty of engineering hakim sabzevari university, sabzevar, iranگروه مهندسی مواد و پلیمر، دانشکده فنی و مهندسی، دانشگاه حکیم سبزواری، سبزوار

در این پژوهش دیود شاتکی با ساختار al-pani/mwcnt-au به روش لایه نشانی چرخشی و بخار فیزیکی ساخته شده است. برای این منظور لایه نازکی از طلا بر روی شیشه آزمایشگاهی به روش بخار فیزیکی لایه نشانی شد، سپس پلی آنیلین در محیطی که نانو لوله کربنی پخش شده بود، به روش پلیمریزاسیون رادیکالی پلیمریزه شده و کامپوزیت پلی آنیلین/ نانو لوله کربنی چند دیواره تهیه گردید. فیلم یکنواختی از کامپوزیت حاصل روی سطح طلا ...

در این تحقیق با افزایش خاصیت انعکاس فرابنفش پارچه پنبه– نایلون 66 پوشش مناسبی جهت استتار اهداف نظامی در مناطق برفی تهیه شد. برای این منظور ابتدا چند ترکیب با انعکاس فرابنفش بالا مانند سولفات باریم، دی اکسید سیلیسیم و پلی تترافلوئورواتیلن (PTFE) توسط اسید سیتریک و هیپوفسفیت سدیم (SHP) روی پارچه لایه نشانی شد و سپس توسط عملیات حرارتی تثبیت گشت. تأثیر پارامترهای موثر شامل نوع و مقدار ترکیبات، مقدا...

ژورنال: :فرآیندهای نوین در مهندسی مواد 2011
مهدی یاری مجید مجتهدزاده عبداله افشار

ژورنال: :پژوهش سیستم های بس ذره ای 2015
احسان پارسیان پور مجتبی روستائی فریدون سموات جهانگیر جعفری رحمان بهرام سهرابی

در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ito) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (xrd) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (xrr) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...

در این مقاله، فرایند لایه نشانی با لیزر پالسی و در حضور گاز پس‌زمینه به روش مونت کارلو شبیه‌سازی شده است. به طور خاص رشد فلز آلومینیوم در محیط گاز زنون پس‌زمینه و در فشار 50 میلی تور شبیه‌سازی شده است. فواصل هدف - زیرلایه برابر با 10، 15، 20، 25 و 30 میلی متر در شبیه‌سازی‌ها مورد استفاده قرار گرفته‌اند. اطلاعات مکانی و انرژی توده یون‌های پلاسمایی شکل گرفته در این روش و نیز اطلاعات مشابه برای یو...

نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال

با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید