امروزه حافظههای جاسازی شده در تراشههای سیستمی، بخش اعظمی از فضای موجود در تراشه را به خود اختصاص دادهاند. از این رو آزمون ساخت این حافظهها، گام مهمی در فرآیند تولید تراشههای سیستمی محسوب میشود که تراشههای آسیبدیده را مشخص نموده و عبور از مراحل نظری ابتدایی به مرحله تولید انبوه را در یک تکنولوژی ساخت جدید سرعت میبخشد. در این راستا، خودآزمون داخلی به عنوان یک روش موثر برای رفع مشکلات موجود در ...

با توسعه استاندارد ieee 802.11 که منجر به تبیین استاندارد ieee 802.11e گردید؛ قابلیت تأمین کیفیت خدمات در شبکه های بی سیم میسر شد؛ اما این استاندارد دارای اشکالات عمده ای از قبیل عدم توجه به کیفیت تجربه کاربر (qoe) در ترافیک بلادرنگ است که باعث شده تا از منابع رادیویی موجود به صورت بهینه استفاده نگردد. یکسان بودن پنجره رقابت و حداکثر فرصت ارسال فریم برای تمام کاربران یک کلاس سرویس به معنی عدم ت...