نتایج جستجو برای: لایه های نازک سولفید روی

تعداد نتایج: 523972  

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه ارومیه - دانشکده علوم پایه 1392

امروزه مطالعات بسیاری در زمینه نیمه¬هادی¬ها و اثر جانشانی آن¬ها در خواص اپتیکی و الکتریکی آن¬ها مورد مطالعه و بررسی قرار گرفته است. ما در این پایان¬نامه خواص اپتیکی نیمه¬هادی zno و zno جانشانی شده با sn، تهیه شده به صورت لایه نازک، را هدف کار خود قرار داده و خواص اپتیکی لایه¬ها به وسیله دستگاه طیف سنج بیضی¬نگاری به دست آورده شده است. در قسمت تجربی این پایان¬نامه با استفاده از روش سل ژل، نانو¬لا...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی اصفهان - دانشکده علوم پایه 1393

مشاهده مغناطیس ناشی از اوربیتال p در برخی ترکیبات فاقد عناصر واسطه، حوزه ی جدیدی را در علوم مغناطیس گشوده است. از جمله این ترکیبات می توان به برخی آلیاژهای دوتایی یونی نظیر can اشاره کرد. همراه بودن رفتار مغناطیسی این ترکیب با ویژگی نیم فلزی در برخی ساختارهای شبه پایدار، می تواند برای صنعت اسپینترونیک نویدبخش باشد. پس از مرور مختصری بر ویژگی¬های ترکیبات دوتایی مبتنی بر مغناطش p و نظریه ی تابعی...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی شاهرود - دانشکده فیزیک 1393

در این تحقیق تجربی لایه های نازک نانو ساختار اکسید روی به روش اسپری پایرولیز سنتز و خواص فیزیکی گوناگون آنها شامل خواص مورفولوژی، ساختاری، اپتیکی، الکتریکی، ترمو الکتریکی و همچنین کاربرد آنها در فوتو رسانایی uv مورد بررسی قرار گرفت. در این تحقیق برای مشخصه‏یابی نمونه‏ها از دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem)، پراش اشعه ایکس (xrd)، طیف سنجی uv-vis، دستگاه اندازه گیری منحنی جریان ...

ژورنال: فیزیک کاربردی 2016

در این مقاله، فرآیند لایه نشانی فیلم های نازک طلا، به کمک روش تبخیر حرارتی شبیه سازی شد. برای این منظور از نرم افزار COMSOL Multiphysics استفاده گردید. مدل سه بعدی در محیط نرم افزار ایجاد شده و هندسه، تحلیل مش ها، شرایط مرزی و روابط مورد نیاز معرفی و مورد مطالعه قرار گرفتند. ضخامت، چگالی، شار گرما، فشار و سایر پارامتر های مرتبط با لایه نشانی مورد بررسی قرار گرفتند. با استفاده از رگرسیون صفحه ای...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه گیلان - دانشکده علوم پایه 1389

انباشت لایه های نازک اکسید روی غیر آلائیده و همچنین آلایش یافته با عناصر قلع، نیتروژن و استفاده همزمان نیتروژن و عناصر گروه iii با استفاده از روش اسپری پایرولیزز مد نظر می باشد. هدف، بهبود خواص فیزیکی لایه های اکسید روی با استفاده از عناصر آلاینده است و از این رو توجه خاصی به تغییر نوع رسانش از n به p در اثر آلایش ساختار صورت گرفته. دسترسی به لایه هایی با خواص ایده آل از نوع n و p امکان معرفی ن...

پایان نامه :دانشگاه آزاد اسلامی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکزی - دانشکده علوم پایه 1394

میباشند خواص اپتیکی لایه های نازک دی اکسیدتیتانیوم وابستگی شدیدی به اندازه ذرات افزوده شده به آنهادارد که با ترکیبات دوپینگ شده و آثارسطحی میتواند عملکرد بهتری از خود نشان دهند. با توجه به اندازه مولکول نیکل درمقایسه با اندازه تیتانیوم و شباهت و نزدیکی آن با تیتانیوم می تواند جایگزین مناسبی برای آن درترکیب دی اکسید تیتانیوم باشد.این جایگزینی میتواند اثرات قابل توجه ای در خواص اپتیکی ایجاد کند .

ژورنال: شیمی کاربردی 2009
ماندانا امیری

لایه نشانی یک لایه بسیار نازک 9 تا 18 نانومتری از نانوذره‌های کربنی بر روی الکترودITO با استفاده از روش لایه نشانی لایه- لایه انجام شده و اثرات آن بر روی فرایندهای الکتروشیمی مورد بررسی قرار گرفته است. شناسایی‌ این لایه‌های بسیار نازک با استفاده از تکنیکهای اسپکتروفتومتری، اسپکتروسکوپی امپدانس و میکروسکوپی نیروهای اتمی انجام شده‌است. بررسیهای انجام شده با سیستم‌های ردوکس جذب شده آنیونی و کاتیون...

پایان نامه :وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی - دانشکده شیمی 1393

امروزه سنتز نیمه رساناها از اهمیت ویژه ای برخوردار است زیرا آنها یکی از اجزای اساسی سلول های خورشیدی محسوب می شوند. در این پروژه سعی شده نوعی لایه جاذب برای سلول های خورشیدی لایه نازک معرفی گردد.

پایان نامه :دانشگاه آزاد اسلامی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکزی - دانشکده علوم پایه 1391

وابستگی خواص الکتریکی و مکانیکی لایه های نازک نیترید تیتانیوم انباشت شده بر روی زیرلایه های سیلیکون به روش کندوپاش مغناطیسی dc، به شار گاز آرگون بررسی شد. ساختار بلوری و ریخت شناسی لایه ها به ترتیب به وسیله پراش پرتو-x (xrd) و میکروسکوپ نیروی اتمی(afm) بررسی شد. خواص مکانیکی و الکتریکی لایه ها نیز بوسیله آزمون سختی سنجی (nano-indentation) و دستگاه جستجوگر چهار نقطه ای (four point probe)، تحقیق ...

�لایه های نازک نیترید سیلیکون برروی زیرلایه بس کریستال سیلیکون و شیشه نازک بااستفاده از روش کندوپاش RF لایه نشانی شده اند. لایه نشانی یک بار در محیط گاز آرگن و بار دیگر در محیط گاز نیتروژن انجام شده� است. با تغییر توان لایه نشانی نسبت نیتروژن و سیلیکون موجود در لایه تغییرمی کند و لایه هایی با خواص نوری متفاوت به دست می آید. تأثیرات ناشی از تغییرات توان RF برروی خواص نوری و ترکیبات موجود در لایه...

نمودار تعداد نتایج جستجو در هر سال

با کلیک روی نمودار نتایج را به سال انتشار فیلتر کنید